اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات و سیلیکات به روش اسپکتروفتومتری و رگرسیون حداقل مربعات جزئی
Publish place: Applied Chemistry Today، Vol: 4، Issue: 10
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 35
This Paper With 12 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_CHEM-4-10_005
تاریخ نمایه سازی: 26 شهریور 1403
Abstract:
یک روش اسپکتروفتومتری ساده، حساس و انتخابی برای اندازه گیری همزمان مقادیر کم فسفات وسیلیکات بر اساس تشکیل کمپلکسهای آبی رنگ فسفو- و سیلیکومولیبدینیوم در حضور اسکوربیک اسید شرح داده شده است. اگر چه کمپلکسهای فسفات و سیلیکات با واکنشگر، همپوشانی طیفی بالایی نشان می دهند اما آنها بطور همزمان بوسیله رگرسیون حداقل مربعات جزئی اندازه گیری شده اند. محدوده کارکرد خطی برای فسفات۰۰/۳-۰۱/۰ و برای سیلیکات۰۰/۵-۰۱/۰ میلی گرم بر لیتر می باشد.اثر مزاحمت آنیونها و کاتیونهای مختلف مورد مطالعه قرار گرفت و روش پیشنهادی بطور موفقیت آمیز برای اندازه گیری همزمان فسفات و سیلیکات در شوینده ها بکار گرفته شد.
Keywords:
