مقایسه روش های ویلیامسون - هال و اصلاح شده شرر برای اندازه گیری اندازه دانه مواد نانوساختار
Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 7,396
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
AEBSCONF01_432
تاریخ نمایه سازی: 6 آبان 1393
Abstract:
پهن شدگی پیک در الگوی پراش ایکس، ناشی از ریز شدن دانه وافزایش کرنش شبکه است به طورکلی روش های مختلفی برای اندازه گیری اندازه دانه با استفاده الگوی پراش پرتو ایکس وجود دارد که مرسوم ترین آن ها، هال و رابطه ای شده ی شرر توسط منشی هستند. در این مقاله تلاش شده است با مقایسه ی بین این دو روش، روشی دقیق برای اندازه گیری اندازه دانه گزارش شود. طبق محاسبات صورت گرفته بر روی نانو ذره ی پودریکاربید سیلیسیم ومقایسه با اندازه به دست آمده ازتصویر میکروسکوپ الکترونی رویشی گسیل میدان برای نانوذره ی پودری نتیجه گرفته شد، که رابطه اصلاح شده شرر به خاطر استفاده از روش کمترین مربعات خطا روشی دقیق تر برای اندازه گیری اندازه دانه در مواد نانو ساختار است.
Keywords:
Authors
حسین الوندی
دانشجو کارشناسی ارشد دانشگاه صنعتی مالک اشتر اصفهان
امین نظری
دانشجو کارشناسی ارشد دانشگاه صنعتی مالک اشتر اصفهان
محمدرضا دهنوی
مربی، دانشگاه صنعتی مالک اشتر اصفهان
خسرو فرمنش
استادیار، دانشگاه صنعتی مالک اشتر اصفهان
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :