تخمین عیب سنسوردرکلاسی ازسیستم های لیپشیستزغیرخطی بااستفاده ازرویتگرمدلغزشی مقاوم باعملکرد H
Publish place: International Conference on New Research Findings in Electrical Engineering and Computer Science
Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 494
This Paper With 16 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
COMCONF01_637
تاریخ نمایه سازی: 8 آذر 1394
Abstract:
دراین مقاله یک روش جدید به منظور تخمین عیب سنسورها درکلاسی ازسیستم های لیپشیتزغیرخطی دارای عدم قطعیت بااستفاده ازطراحی رویتگرهای مدلغزش مقاوم باعملکرد H ارایه میشود درابتدا سیستم اصلی به دوزیرسیستم تبدیل میشود بصورتی که زیرسیستم اول دارای عدم قطعیت بدون عیب و زیرسیستم دوم دارای عیب بدون عدم قطعیت باشد عیبهای سنسور درزیرسیستم دوم بااستفاده ازروشی برپایه رویتگرانتگرالی بصورت عیب عملگردرمعادلات سیستم درنظر گرفته میشود شرایط ضروری به منظور غیرحساس بودن رویتگرارایه شده نسبت به ورودی ناشناخته عیب مطالعه میشود هدف بدست آوردن شرایط کافی بااستفاده ازتکنیک بهینه سازی نامساوی ماتریس خطی به منظور کمینه کردن بهره H بین خطای تخمین و اغتشاش درحالیکه به صورت همزمان روش طراحی ازحل مساله بهینه سازی شرایط تطابق ساختار را تضمین می کند درپایان نتایج روش ارایه شده برروی سیستم مفصل بازوی انعطاف پذیرروباتتک اتصال نشان داده میشود
Keywords:
Authors
اشکان الهدادی
دانشجوی کارشناسی ارشددانشگاه صنعتی شیراز دانشکده مهندسی برق و الکترونیک گروه کنترل
جعفر زارعی
استادیار دانشگاه صنعتی شیراز دانشکده مهندسی برق و الکترونیک گروه کنترل
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :