بررسی اثر افزایش ;BaZrO بر ریزساختار سرامیک های دی الکتریک مایکروویو با ترکیب (0.9-x)Ba([Zno.Coo.4l/3Nb2/3) 03-0.1Ba(Gay2Ta2)Ox-xBazrO

سرامیکهای دی الکتریک مایکروویو امروزه بعنوان اجزاء غیر قابل جایگزین در دستگاه ها و سیستمهای مورد استفاده در فرکانسهای مایکروویو برای مثال تلفن های همراه بکار میروند. در این تحقیق اثر افزایش مقادیر متفاوت x ) Ba ( [ Zno . sCoo4 ] 13 , Nbars ) 0 . 0 . 1BaGar Ta-0 . 9) که در ;BaZrO به یک ترکیب با فرمول ;xBazrO-0ر 0 . 1-0=x است، مورد بررسی قرار گرفته است. فرایند زینتر ترفندهای 1500°C که بالاترین دانسیته را نشان آن می یابد. پیک سوپر =x افزایش و سپس کاهش 0 . 08 BaZrO تا مقدار میدهد انجام گردید. دانسیته در اثر افزایش ساختار در طیف اشعه X هیچکدام از ترکیبات مشاهده نشد که حاکی از عدم حضور نظم یا سوپر ساختار میباشد. یعنی c / a احتمال وجود سوپر ساختار با استفاده از عدم مشاهده وجود اعوجاج در شبکه نیز منتفی گردید. عدم تغییر BaZr0 تایید دیگری بر عدم حضور سوپر ساختار بود. نسبت ثوابت شبکه سوپر ساختار هگزاگونال با میزان =x برابر با GHz 4366 بود که بسیار پایین میباشد. برای بقیه نمونه ها 0 . 08 فاکتور کیفیت (Qaf) برای نمونه با فاکتور کیفیت قابل اندازه گیری نبود. با توجه به بررسی های ریز ساختاری علت اصلی میزان پایین فاکتور کیفیت مشاهده شده را میتوان با حضور فاز دوم در ریز ساختار توجیه کرد

Keywords:

الکتروسرامیک , دی الکتریک مایکروویو , پروسکایت , زینتر , ریز ساختار , فاکتور کیفیت