تحلیل اثر تونل زنی باند به باند در ترانزیستور اثر میدان تونلی
Publish place: National Congress for the Development of New Research in Electrical and Computer Engineering
Publish Year: 1397
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 928
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ECCIRD02_010
تاریخ نمایه سازی: 8 تیر 1398
Abstract:
در سال های اخیر با کوچک شدن تکنولوژی CMOS محدودیت هایی در عملکرد قطعه نظیر توان مصرفی، سرعت سوئیچ و همچنین کار با ولتاژ پایین تر، باعث پیدایش قطعه ای جدید گردید. در تحقیقات نانومتری با دیدگاه جابجایی الکترون از داخل سد پتانسیل و از فرآیند تونل زنی باند به باند (BTBT)، ترانزیستور اثر میدان تونلی (TFEI)، مورد توجه طراحان الکترونیک و فیزیک قرار گرفت و مدل اولیه آن ساختار به فرم p-i-n پیشنهاد شد. در این مقاله روابط و تحلیل چگونگی جابجایی الکترون و مباحث مربوط به تونل زنی باند به باند مرور می گردد و در نهایت ترانزیستور اثر میدان تونلی مبتنی بر سیلیکن با استفاده از نرم افزار SILVACO شبیه سازی می گردد. در ترانزیستور اثر میدان تونلی برخلاف MOSFET که از تزریق حامل ها به صورت thermionic است. از مکانیسم تونل زنی از داخل سد پتانسیل برای حامل ها استفاده می شود. ویژگی برتر قطعات مبتنی بر BTBT شیب زیر آستانه (SS) کمتر از mV/dec60 می باشد.
Keywords:
Authors
بهنام درستکار
موسسه آموزش عالی وحدت تربت جام، خراسان رضوی، ایران
وحید بهادررضاآبادی
موسسه آموزش عالی وحدت تربت جام، خراسان رضوی، ایران
حامد خدابخشی
موسسه آموزش عالی وحدت تربت جام، خراسان رضوی، ایران