تاثیر ولتاژ و محلول اسیدی بر روی زبری سطح آرایه های اکسید نانومتخلخل آلومینیوم آندی منظم با استفاده از بررسی میکروسکوپ نیروی اتمی
Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,059
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICME11_252
تاریخ نمایه سازی: 3 مرداد 1389
Abstract:
آرایه های منظم اکسید آلومینیم آندی از طریق آندایزینگ دو مرحله ای آلومینیم در الکترولیت های اسیدی و در شرایط مختلفی از ولتاژ و دما تهیه می شوند. این آرایه ها متشکل از دولایه پیوسته و متخلخل با ساختاری شامل شش وجهی های منظم و با حفراتی نانومتری در داخل آن، کاربردهای وسیعی را به عنوان قالب یا تمپلیت در ساخت نانومواد نظیر نانوسیم و یا به عنوان کاتالسیت دارا می باشند. با این وجود در خصوص بررسی زبری سطحی لایه های اکسیدی منظم مطالعات مدون و وسیعی صورت نگرفته است. در این تحقیق، لایه های اکسیدی آلومینیم در سه نوع اسید مختلف شامل اسید سولفوریک، اسید اگزالیک و اسید فسفریک تحت ولتاژهای ثابت به ترتیب 18 ، 40 و 160 ولت در دمای صفر درجه سانتی گراد به روش دو مرحله ای آندایز گردیده و توپوگرافی سطحی این نمونه ها با استفاده از میکروسکوپ نیروی اتمیAFM) و میکروسکوپ الکترونی روبشی مورد بررسی قرار گرفته اند. نتایج نشان می دهند که با افزایش ولتاژ در اسید های مختلف میزان زبری سطح بصورت چشمگیری افزایش می یابد. این تغییرات وابسته به تغییر اندازه قطر حفرات بوده و بطور مستقیم با آن افزایش می یابد.
Keywords:
آرایه های منظم اکسیدآلومینیوم- آندایزینگ- حفرات نانومتری- زبری- میکروسکوپ نیروی اتمی
Authors
سیدمجید پیغمبری ستاری
دانشجوی کارشناسی ارشد، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی سهند نبری
فرزاد نصیرپوری
استادیار، دانشکده مهندسی مواد، دانشگاه صنعتی سهند نبریز
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :