کاربرد روش تداخل سنجی لیزری برشی در بازرسی غیر مخرب و تخمین اندازه عیوب صفحه ای

Publish Year: 1398
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 296

This Paper With 14 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

JR_JSFM-9-4_001

تاریخ نمایه سازی: 31 تیر 1399

Abstract:

تداخل سنجی لیزری برشی یا برش نگاری یکی از روش های نوین بازرسی غیر مخرب است که در تشخیص و تخمین اندازه عیوب زیر سطحی کاربرد دارد. در این پژوهش روش جدیدی برای تخمین اندازه عیوب صفحه ای در قطعات با این روش ارائه شده است. به منظور صحت سنجی و مقایسه روش ارائه شده با روش های مرسوم و مطالعه اثر عمق عیب و اندازه برش بر دقت اندازه گیری، عیوب صفحه ای با اندازه و عمق های مختلف و با پارامتر اندازه برش متفاوت آزموده شدند. اندازه عیوب در شرایط مختلف تعیین شده و خطای پیش بینی اندازه عیب در هر مورد به دست آمد. همچنین شبیه سازی اجزای محدود به منظور بررسی تاثیر میزان بارگذاری بر دقت تخمین اندازه عیوب مورداستفاده قرار گرفت. نتایج نشان داد روش ارائه شده قادر به پیش بینی اندازه عیب با دقت بیشتری نسبت به روش مرسوم می باشد. همچنین تاثیر نسبت اندازه برش و اندازه عیب بر خطای تخمین در روش ارائه شده کمتر بوده و بیشترین دقت پیش بینی اندازه عیب زمانی حاصل می شود که اندازه برش برابر با اندازه عیب باشد. نتایج حاصل از شبیه سازی المان محدود نشان داد در روش ارائه شده برخلاف روش مرسوم، افزایش زمان بارگذاری بر دقت تخمین اندازه عیب بی تاثیر بوده و پارامترهای اندازه گیری آن به میزان بارگذاری بستگی ندارد.

Keywords:

تداخل سنجی لیزری برشی , روش المان محدود , اندازه برش , اندازه عیب

Authors

سینا صباغی فرشی

دانشجوی دکتری، مهندسی مکانیک، دانشگاه تربیت مدرس، تهران

داود اکبری

استادیار، مهندسی مکانیک، دانشگاه تربیت مدرس، تهران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Duchene P, Chaki S, Ayadi A, Krawczak P (2018) A ...
  • Senthil K, Arockiarajan A, Palaninathan R, Santhosh B, Usha K ...
  • Hung Y (1989) Shearography: A novel and practical approach for ...
  • Hung Y, Ho H (2005) Shearography: An optical measurement technique ...
  • Liu Z, Gao J, Xie H, Wallace P (2011) NDT ...
  • Kim G, Hong S, Jhang KY, Kim GH (2012) NDE ...
  • Akbari D, Soltani N, Farahani M (2013) Numerical and experimental ...
  • Akbari D, Soltani N (2013) Investigation of loading parameters in ...
  • Peng Y, Liu G, Quan Y, Zeng Q (2017) The ...
  • Lai W, Kou S, Poon C, Tsang W, Ng S, ...
  • Mohammadi M, Akbari D (2015) Evaluation of sub-surface cracks in ...
  • Buchta D, Heinemann C, Pedrini G, Krekel C, Osten W ...
  • Francis D, Tatam R, Groves R (2010) Shearography technology and ...
  • Michel F, Moreau V, Rosso V, Habraken S, Tilkens B ...
  • Hofmann D, Pandarese G, Revel GM, Tomasini EP, Pezzoni R ...
  • نمایش کامل مراجع