سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره

Publish Year: 1399
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 439

This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

ISSE21_004

Index date: 12 May 2021

بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره abstract

در پژوهش حاضر نانوسیم نقره به روش پلی-ال سنتز شده و لایه نشانی نانوسیم نقره روی زیرلایه های شیشه ای بهروش دراپ کستینگ انجام گرفت. مشخصه یابی لایه نازک با استفاده از روش های پراش سنجی پرتوایکس،میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدان، طیف سنج UV- VIS و پروب چهار نقطه ای انجام شد. نتایج حاصلهنشان می دهد نمونه با شفافیت ۸۰ درصد در طول موج موئی، دارای مقاومت سطحی ۸۹ اهم بر مربع می باشد.

بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره Keywords:

بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره authors

محمد سعیدی

اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر (کارشناس ارشد مهندسی مواد)

اکبر اسحاقی

اصفهان، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشیار)

عباسعلی آقایی

اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشجوی دکتری)

حسین زابلیان

اصفهان، صنایع الکترواپتیک صاایران (صاپا)

مقاله فارسی "بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره" توسط محمد سعیدی، اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر (کارشناس ارشد مهندسی مواد)؛ اکبر اسحاقی، اصفهان، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشیار)؛ عباسعلی آقایی، اصفهان، شاهین شهر، دانشگاه صنعتی مالک اشتر، دانشکده مهندسی مواد (دانشجوی دکتری)؛ حسین زابلیان، اصفهان، صنایع الکترواپتیک صاایران (صاپا) نوشته شده و در سال 1399 پس از تایید کمیته علمی بیست و یکمین همایش ملی مهندسی سطح پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله نانوسیم نقره، الکترود شفاف هادی، لایه نازک هستند. این مقاله در تاریخ 22 اردیبهشت 1400 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 439 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که در پژوهش حاضر نانوسیم نقره به روش پلی-ال سنتز شده و لایه نشانی نانوسیم نقره روی زیرلایه های شیشه ای بهروش دراپ کستینگ انجام گرفت. مشخصه یابی لایه نازک با استفاده از روش های پراش سنجی پرتوایکس،میکروسکوپ الکترونی روبشی نشر میدان، طیف سنج UV- VIS و پروب چهار نقطه ای انجام شد. نتایج حاصلهنشان می دهد نمونه با شفافیت ۸۰ ... . برای دانلود فایل کامل مقاله بررسی خواص الکترواپتیکی لایه نازک نانوسیم نقره با 8 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.