طراحی و شبیه سازی یک IC منطبق با استاندارد IEEE1149.1 برای تستجاروب مرزی وارائه محدودیت های آن
Publish place: 10th Iranian Student Conference on Electrical Engineering
Publish Year: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,140
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ISCEE10_005
تاریخ نمایه سازی: 7 آذر 1390
Abstract:
دسترسی به نقاط تست در سطح وسیع و کامل در هنگام تست بردهای مدارچاپی از اهداف مهم در طراحی یک برد مدارچاپی محسوب می شود زمانی که دسترسی به نقاط تست درروی برد مدار چاپی کامل نباشد دراین صورت روشهای تست معمول برای تست بردهای مدارچاپی کارایی لازم را نخواهد داشت بنابراین باید شیوه جدیدی جهت تست جستجو کرد روش پیشنهادی در این مقاله تست بردهای مدارچاپی که المان آنها منطبق بر استاندارد IEEE1149.1 هستند را با استفاده از چهارخط خط پنجم اختیاری و بدون نیازبه دسترسی فیزیکی مقدور می سازد IC های به کاررفته در طراحی بردهایی که با استفاده از این روش تست می شوند باید دارای ساختمان خاصی باشند تا بتوانند دستورالعملهایی که دراین استاندارد تعریف می شوند را اجرا کنند.
Keywords:
Authors
سمیه رحمانی خوجین
مرکز تحقیقات مخابرات ایران
سعید گل محمدی هریس
دانشگاه تربیت مدرس تهران گروه الکترونیک
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :