سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی

Publish Year: 1401
Type: Journal paper
Language: Persian
View: 394

This Paper With 12 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

JR_JIPET-13-50_008

Index date: 11 October 2021

شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی abstract

یکی از پیشرفت­های مهم سال­های اخیر در دستگاه رامان، تلفیق آن با میکروسکوپ پروب روبشی(SPM)  به­­خصوص میکروسکوپ نیروی اتمی (AFM) بوده ­است. میکروسکوپ نیروی اتمی در حال حاضر به­عنوان یکی از بهترین روش­های تصویر­برداری برای مطالعه توزیع ناهمگون سطح در ابعاد نانو شناخته می­شود. در سال­های اخیر دانشمندان بر روی به­دست آوردن فاکتور تقویت میدان الکتریکی بیشتر متمرکز شده­اند تا آنجا که آشکارسازی و نقشه­برداری از یک مولکول تنها با این روش امکان­پذیر شده است. در نتیجه رزولوشن فضایی جهت تشخیص در مقیاس زیر ­مولکول ­­­در حال بهبود است. در این مقاله با استفاده از روش محاسباتی تفاضلی محدود در حوزه زمان(FDTD)  اثر تغییر پارامترهای پروب مثل زاویه مخروط، شعاع تیپ و جنس آن بر میزان شدت میدان الکتریکی نزدیک به نوک پروب مورد بررسی قرار گرفته ­است. در نهایت­­­­ ­­­پس از یافتن بهترین ساختار تیپ و نوع پلاریزاسیون نور تابشی، اثر استفاده از زیر­لایه در سیستم طیف­سنجی رامان تقویت­ شده سوزنی(TERS) پیشنهادی بررسی شده است. نتایج شبیه­سازی­­­­­ها نشان می­دهد که با توجه به ابعاد تیپ انتخاب شده از بین زاویه­های مخروط بررسی شده زاویه مخروط ۳۰ درجه بیشترین میزان تقویت میدان الکتریکی در نوک تیپ را ایجاد می­کند. همچنین به­کار بردن منبع نور تابشی با پلاریزاسیون دایره­ای و استفاده از زیرلایه از عوامل بسیار موثر جهت بهبود فاکتور تقویت میدان الکتریکی هستند. در انتها برای ساختار طراحی شده ماکزیمم مقدار فاکتور تقویت میدان الکتریکی ۱۰۴×۲/۳ به­دست آمده است، که این مقدار در مقایسه با نتایج گزارش شده در مطالعات قبلی بهبود قابل توجه داشته­ است.

شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی Keywords:

تشدید پلاسمون های سطحی محلی , طیف سنجی رامان تقویت شده سوزنی , نوک تیپ , میکروسکوپ نیروی اتمی

شبیه سازی و تحلیل پارامترهای موثر بر پاسخ طیفی فاکتورتقویت میدان الکتریکی در یک سیستمAFM-TERS پیشنهادی authors

محسن کاتبی جهرمی

گروه مهندسی برق- واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران

رحیم غیور

گروه مهندسی برق- واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران

زهرا عادل پور

گروه مهندسی برق- واحد شیراز، دانشگاه آزاد اسلامی، شیراز، ایران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
Schmitt, J. Popp, “Raman spectroscopy at the beginning of the ...
Gao, W. Lin, J. Wang, R. Wang, J. Wang, “Principle ...
F. Shao, R. Zenobi, “Tip-enhanced raman spectroscopy: Principles, practice, and ...
Shen, X. Zi, M. Du, L. Zhang, Y. Shen, M. ...
Mauser, A. Hartschuh, “Tip-enhanced near-field optical microscopy”, Chemical Society Reviews, ...
Petry, N.C. Oliveira, A.C. Alves, A.G.S. Filho, D.S.T. Martinez, G. ...
Kumar, S. Mignuzzi, W. Su, D. Roy, “Tip enhanced Raman ...
Kazemi-Zanjani, S. Vedraine, F. Lagugné-Labarthet, “Localized enhancement of electric field ...
Najjar, D. Talaga, L. Schue, Y. Coffinier, S. Szunerits, R. ...
Wang, D. Zhang, K. Braun, H. J. Egelhaaf, C.J. Brabec, ...
Lee, R. D. Hartschuh, D. Mehtani, A. Kisliuk, J.F. Maguire, ...
Okuno, Y. Saito, S. Kawata, P. Verma, “Tip-enhanced Raman investigation ...
Su, D. Roy, “Visualizing graphene edges using tip-enhanced Raman spectroscopy”, ...
Zhang, Y. Zhang, Z.C. Dong, S. Jiang, C. Zhang, L.G. ...
Huang, M. Bates, X.W. Zhuang, “Super-resolution fluorescence microscopy”, Annual Review ...
Kumar, B.M. Weckhuysen, A.J. Wain, A.J. Pollard, “Nanoscale chemical imaging ...
Kim, C. Lee, B.G. Jeong, S.H. Kim, M.S. Jeong, “Fabrication ...
Lu, W. Zhang, J. Zhang, M. Liu, L. Zhang, T. ...
Yang, J. Aizpurua, X. Hongxing, “Electromagnetic field enhancement in TERS ...
Y. Meng, T.X. Huang, X. Wang, S. Chen, Z.L. Yang, ...
Bruzzone, M. Malvaldi, G.P. Arrighini, C. Guidotti, “Theoretical study of ...
S. Kunz, R.J. Luebbers, “The finite difference time domain method ...
Yee, “Numerical solution of initial boundary value problems involving Maxwell's ...
M. Sullivan, “Electromagnetic simulation using the FDTD method”, ۲th Edition, ...
Monsefi, M. Otterskog, S. Silvestrov, “Direct and inverse computational methods ...
B. Johnson, R.W. Christy, “Optical constants of the noble metals”, ...
Zhan, “Cylindrical vector beams: from mathematical concepts to applications”, Advances ...
Richards, E. Wolf, “Electromagnetic diffraction in optical systems. II. Structure ...
Youngworth, T. Brown, “Focusing of high numerical aperture cylindrical-vector beams”, ...
M. Sartin, H. Su, X. Wang, B. Rena, “Tip-enhanced Raman ...
نمایش کامل مراجع