شبیه سازی اثرات تابشهای پروتون و الکترون بروی لایه های محافظ در سلول منطقی دیجیتالی درون تراشه FPGA با استفاده از کد FLUKA
Publish Year: 1399
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 163
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_RSM-8-4_031
تاریخ نمایه سازی: 15 فروردین 1401
Abstract:
در این مقاله اثرات تابشهای پروتون و الکترون بروی لایه های محافظ در سلول منطقی دیجیتالی درون تراشه FPGA با استفاده از کد FLUKA شبیه سازی شده است. با استفاده از کد مونت کارلوی، ترابرد الکترونها و پروتونها در یک سلول منطقی مربوط به دروازه ی دیجیتالی درون تراشه FPGA مورد بررسی قرار گرفته شده است. در این شبیه سازی، حداکثر انرژی الکترونهای و پروتونهای وارد شده به سلول منطقی تراشه بین ۳۰ تا ۵۰ مگاالکترون ولت بوده و آثار اختلالات ناشی از تابش بر مواد نیمههادی و همچنین برخی از اثرات مخرب تابش پرتوهای الکترون و پروتون در پنج ساختار متفاوت با بکار بردن لایه های آلومینیوم، سیلیکون، دی اکسید سیلیکون، بورن و اکسید بورن مورد بررسی قرار گرفته شده است. نتایج شبیه سازیها نشان میدهد، بکار بردن لایهی ضخیم دی اکسید سیلیکون در چند لایه ی متفاوت موجب کاهش آثار ناشی از اختلال ها نسبت به سایر ساختارها خواهد شد.
Keywords:
logical cell , proton , radiation effects , SEU , FLUKA code , سلول منطقی , پروتون , اثرات تابش , کد فلوکا , SEU
Authors
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :