بهسازی سیستم تایید چهره با ترکیب ویژگی های مبتنی بر الگوهای دودویی محلی و تجزیه به مدهای تجربی

Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,585

This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICMVIP07_026

تاریخ نمایه سازی: 28 مرداد 1391

Abstract:

تغییرات نورپردازی محیط و حالت چهره از جمله عوامل موثر بر کیفیت عملکرد سیستم های تایید چهره می باشند. در همین ارتباط فرآیند استخراج ویژگی از اهمیت ویژه ای برخوردار است، به گونه ای که بر عملکرد سایر قسمت های سیستم تایید چهره تاثیر بسزایی دارد. از آن جا که استخراج ویژگی ها با استفاده الگوی دودویی محلی (LBP) نسبت به تغییرات شدت روشنایی محیط مقاوم است. در این پژوهش برای استخراج ویژگی ها از هیستوگرام الگوی دودویی محلی (LBP) استفاده می شود. پس از استخراج هیستوگرام الگوی دودویی محلی به بردار حاصل، الگوریتم تجزیه به مدهای تجربی (EMD) را اعمال کرده و با حذف تعدادی از توابع حالت ذاتی (IMF) مربوطه سعی می شود که افزونگی موجود در هیستوگرام حذف شود. در نهایت با اعمال تکنیک های کاهش ابعاد PCA و LDA، ابعاد را کاهش داده و بردارهای پایه فضای ویژگی ها را به گونه ای تغییر می دهیم که خطای سیستم کاهش یابد. نتایج حاصل از آزمایش های انجام شده روی دادگان XM2VTS و DARKXM2VST، کارایی این روش را در بهبود کیفیت سیستم های تایید چهره نشان می دهد

Keywords:

Authors

احمد شیرکانی

دانشگاه یزد

محمدتقی صادقی

عضو هیئت علمی دانشکده برق دانشگاه یزد

وحید ابوطالبی

عضو هیئت علمی دانشکده برق دانشگاه یزد

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • T. Ojala andl M. Pietikainen, "A comparative study of texture ...
  • Y. Rodriguez andl S. Marcel, "Face authenticati _ using adlapted ...
  • IC. Shan, S. Gong, andl P. W. McOwan. "Facial expression ...
  • .ی [4]N.E. Huang, Z. Shen, S.R. Long, M.C. Wu, H.H. ...
  • Y. Yang and _ Deng, "Empirical Modle Decomp osition as ...
  • K. Messer, J. Matas, J. Kittler, J. Luettin, andl G. ...
  • نمایش کامل مراجع