بررسی خواص اپتیکی فیلم های چند لایه اکسید تنگستن در ضخامت های مختلف

دراین پژوهش، پودر تری اکسید تنگستن (WO۳) به روش رسوب بخار فیزیکی به صورت تک مرحله ای به روی زیر لایه هایی از جنس لام آزمایشگاهی در ضخامت های ۲۰۰،۱۰۰،۲۰،۲ نانومتر در فشار پایه ی حدودا (۵-) ۱۰ تور لایه نشانی شدند. سپس مشخصه یابی لابه های سنتز شده با استفاده از طیف سنجی مرئی-فرابنفش و طیف سنجی فوتولومینسانس و همچنین XRD برای بررسی ساختاری فیلم های تولیدی صورت گرفت. تغییرات گاف نواری اپتیکی با ضخامت فیلم های تولیدی در این پژوهش گزارش شده است.

بررسی خواص اپتیکی فیلم های چند لایه اکسید تنگستن در ضخامت های مختلف Keywords:

تری اکسید تنگستن , فیلم نازک , طیف سنجی , گاف نواری اپتیکی

بررسی خواص اپتیکی فیلم های چند لایه اکسید تنگستن در ضخامت های مختلف authors

محمدرضا خانلری

استاد وعضو هیئت علمی دانشگاه بین المللی امام خمینی

زهرا پاسالاری

دانشجو

میلاد پرهیزکاری

دانشجو

Certificate
I'm the author of the paper

Export:

Link to this Paper:

https://civilica.com/doc/1604158

Document National Code:

SCCFSTS01_074

Index date: 15 February 2023

How to cite:

If you want to refer to this Paper in your research work, you can simply use the following phrase in the references section:

خانلری، محمدرضا و پاسالاری، زهرا و پرهیزکاری، میلاد،1401،بررسی خواص اپتیکی فیلم های چند لایه اکسید تنگستن در ضخامت های مختلف،The first international conference of Iranian basic science students،Tehran،https://civilica.com/doc/1604158

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این Paper اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1401، خانلری، محمدرضا؛ زهرا پاسالاری و میلاد پرهیزکاری)
برای بار دوم به بعد: (1401، خانلری؛ پاسالاری و پرهیزکاری)
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

Scientometrics

The specifications of the publisher center of this Paper are as follows:

Ranking of Imam Khomeini International University

Type of center: دانشگاه دولتی

Paper count: 11,016

In the scientometrics section of CIVILICA, you can see the scientific ranking of the Iranian academic and research centers based on the statistics of indexed articles.

مقاله فارسی "بررسی خواص اپتیکی فیلم های چند لایه اکسید تنگستن در ضخامت های مختلف" توسط محمدرضا خانلری، استاد وعضو هیئت علمی دانشگاه بین المللی امام خمینی؛ زهرا پاسالاری، دانشجو؛ میلاد پرهیزکاری، دانشجو نوشته شده و در سال 1401 پس از تایید کمیته علمی اولین کنفرانس بین المللی دانشجویان علوم پایه ایران پذیرفته شده است. کلمات کلیدی استفاده شده در این مقاله تری اکسید تنگستن، فیلم نازک، طیف سنجی، گاف نواری اپتیکی هستند. این مقاله در تاریخ 26 بهمن 1401 توسط سیویلیکا نمایه سازی و منتشر شده است و تاکنون 865 بار صفحه این مقاله مشاهده شده است. در چکیده این مقاله اشاره شده است که <p>دراین پژوهش، پودر تری اکسید تنگستن (WO۳) به روش رسوب بخار فیزیکی به صورت تک مرحله ای به روی زیر لایه هایی از جنس لام آزمایشگاهی در ضخامت های ۲۰۰،۱۰۰،۲۰،۲ نانومتر در فشار پایه ی حدودا (۵-) ۱۰ تور لایه نشانی شدند. سپس مشخصه یابی لابه های سنتز شده با استفاده از طیف سنجی مرئی-فرابنفش و طیف سنجی فوتولومینسانس و ... . برای دانلود فایل کامل مقاله بررسی خواص اپتیکی فیلم های چند لایه اکسید تنگستن در ضخامت های مختلف با 6 صفحه به فرمت PDF، میتوانید از طریق بخش "دانلود فایل کامل" اقدام نمایید.