یک مقایسه گر جدید با قابلیت حذف نویز FPN برای استفاده در سنسورهای تصویر

Publish Year: 1401
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 161

This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

JR_TJEE-52-4_005

تاریخ نمایه سازی: 7 اسفند 1401

Abstract:

چکیدهدر این مقاله، یک مقایسه­گر برای استفاده در سنسورهای تصویر CMOS معرفی شده است که  علاوه بر عملیات مقایسه ولتاژ برای مبدل داده، نویز FPN پیکسل را نیز می­تواند حذف کند. به علت وجود  تعداد زیادی مدار در سنسورهای تصویر ستون-موازی­، این تکنیک با ادغام مدار حذف  نویز در مبدل داده، می­تواند به صرفه­جویی در مصرف توان، سطح سیلیکونی و زمان عکس­برداری کمک کند. نتایج­ شبیه سازی نشان می دهد­ که مقایسه­گر پیشنهادی برای محدوده ورودی۷/۰ تا ۷/۱ ولت با دقت ۱ میلی­ولت می­تواند عملیات مقایسه و حذف نویز را در۲۵ ­نانوثانیه انجام دهد. کل توان مصرفی مقایسه­گر ۶۴ میکرووات می­باشد که دارای تغذیه ۸/۱ و ۵/۲ ولتی بوده و نویز FPN تا دامنه ۵۰­ میلی ولت را با دقت خوبی حذف می­نماید. همچنین کل نویز ارجاع شده به ورودی مقایسه کننده برای پهنای باند ۱ هرتز تا ۱ گیگاهرتز ۵۰۰ میکرو ولت به دست آمد. جانمایی مدار مقایسه­گر ۳۸۰×۷ میکرومتر مربع می­باشد. تمامی مدارها با تکنولوژی ۰.۱۸μm CMOS طراحی و توسط شبیه­ساز Spectre شبیه­ سازی شده­ است.

Keywords:

کلیدواژه ها : سنسور تصویر CMOS , ADC تک شیب , نمونه برداری دوگانه همبسته , سوئیچ خازنی , FPN

Authors

خدیجه کرم زاده

گروه مهندسی برق، واحد علوم تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران

مسعود تیموری

دانشکده برق، دانشگاه صنعتی ارومیه، ارومیه، ایران

مسعود دوستی

گروه مهندسی برق و کامپیوتر، واحد علوم و تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران

پویا ترک زاده

گروه مهندسی برق، واحد علوم تحقیقات، دانشگاه آزاد اسلامی، تهران، ایران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • T. Hirayama, "The evolution of CMOS image sensors", ۲۰۱۳ IEEE ...
  • F. Morishita, W. Saito, Y. Iizuka, N. Kato, R. Otake ...
  • Z. Li, H. Xu, Z. Liu, L. Luo, Q. Wei ...
  • J. -S. Hyeon, S. -H. Kim and H. -J. Kim, ...
  • J. Nakamura, "Image Sensors and Signal Processing for Digital Still ...
  • Jing Gao, Ningxi Yan, Kaiming Nie, Zhiyuan Gao, Jiangtao Xu, ...
  • N. Chen, S. Zhong, M. Zou, J. Zhang, Z. Ji, ...
  • S. Okura, O. Nishikido, Y. Sadanaga, Y. Kosaka, N. Araki, ...
  • N. Cottini, M. Gottardi, N. Massari, R. Passerone, Z. Smilansky. ...
  • L. Gaioni et al., "Optimization of the ۶۵-nm CMOS Linear ...
  • صادق کلانتری، علی محمد فتوحی، «حذف نویز ضربه از تصاویر ...
  • D. Roma et al. "APS fixed pattern noise modelling and ...
  • Guicquero W, Alacoque L. "Impact of fixed pattern noise on ...
  • Q. Zhang, N. Ning, J. Li, Q. Yu, K. Wu, ...
  • S. Xie, A. Theuwissen, "A ۱۰ Bit ۵ MS/s Column ...
  • H. Lee, D. Seo, W. Kim, B. Lee "A Compressive ...
  • J. -Y. Jeong, J. Shim, S. -K. Hong and O. ...
  • مهدی حسین نژاد، حسین شمسی، «طراحی و شبیه سازی مبدل ...
  • H-J. Kim "۱۱-bit Column-Parallel Single-Slope ADC With First-Step Half-Reference Ramping ...
  • J. Wei, X. Li, L. Sun, D. Li, "A ۶۳.۲μW ...
  • M. R. Elmezayen, B. Wu, S. U. Ay "Single-Slope Look-Ahead ...
  • روح اله صنعتی، فرزان خطیب، محمد جوادیان صراف، ریحانه کاردهی ...
  • M. Teymouri, J. Sobhi, "An ultra-linear CMOS image sensor for ...
  • I. Park, C. Park, J. Cheon and Y. Chae, "۵.۴ ...
  • Q. Liu, A. Edward, M. Kinyua, E. G. Soenen and ...
  • نمایش کامل مراجع