امکان سنجی استفاده از ویژگیهای خازنی برای تعیین میزان رسیدگی سیب

درجه بندی محصولات کشاورزی بر اساس رسیدگی برای بسیاری از میوه ها و سبزیجات از اهمیت ویژه­ای برخوردار است. روش های مختلفی برای تشخیص میزان رسیدگی میوه به کار گرفته شده است که بعضی مخرب و برخی دیگر غیر مخرب هستند. در این تحقیق برای تعیین رسیدگی میوه ی سیب در دوران انبارمانی بر اساس ویژگی های ظرفیت خازنی ابتدا یک سامانه ی آزمایشگاهی به منظور اندازه گیری ظرفیت حسگر خازنی طراحی و ساخته شد. سپس مدلی برای استخراج ثابت دی الکتریک سیب پیشنهاد گردید و در ادامه رابطه ی بین ثابت دی الکتریک و میزان رسیدگی میوه بررسی شد. نمونه ها از سیب پائیزه رقم رد دلیشز و گلدن دلیشز انتخاب شدند. تمام نمونه های بالغ در یک روز برداشت شدند و هر کدام از ارقام به سه گروه ۴۵ تایی، و هر گروه به سه دسته ۱۵ تایی کوچک، متوسط و بزرگ تقسیم شدند. ثابت دی الکتریک سیب در طی رسیدن میوه در شرایط کنترل شده دما و رطوبت اندازه گیری شد. نتایج  این مرحله نشان داد ثابت دی الکتریک در طی رسیدن میوه کاهش می یابد. به عبارت دیگر در بسامد kHz ۱۰۰ ثابت دی الکتریک در طی رسیدن میوه روند کاهشی منظمی را دنبال کرده و ازین رو این اطلاعات ذیقیمت است. ادامه­ی مطالعات از جمله بررسی رابطه "زمان رسیدن- میزان مواد جامد محلول" و "زمان رسیدن – استحکام" در این بسامد انجام گرفت. نتایج این مرحله نشان داد که استحکام در طی رسیدن میوه روند کاهشی دارد و میزان مواد جامد محلول (TSS) در طی مراحل رسیدن روند افزایشی را طی می کند.

Keywords:

سیب , حسگر خازنی , بسامد , درجه بندی میوه