ورود
مقالات فارسیISIکنفرانسهاژورنالها

تعیین ریزساختار نمونه ی نانومتری CeO۲ به روش ویلیامسون-هال و تابع توزیع لوگ نرمال با استفاده از تابش سینکروترون

Publish place: Iranian Journal of Crystallography and Mineralogy، Vol: 18، Issue: 1
Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 57

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:
https://civilica.com/doc/1717677

شناسه ملی سند علمی:

JR_IJCM-18-1_007

تاریخ نمایه سازی: 20 مرداد 1402

Abstract:

اندازه­ی محدود بلورک­ها و وجود کرنش در نمونه­های بس بلور، منجر به پهن­شدگی خطوط پراش می­شود. با بررسی این پهن­شدگی می­توان اطلاعاتی در مورد ریز ساختار مواد بلوری به­دست آورد. در این مقاله با استفاده از داده های پراش سینکروترون و با برازش کل نقش پراش، ساختار نمونه­ی نانومتری CeO۲ پالایش و ازنتایج به دست آمده، و نیز روش ویلیامسون – هال، ریز ساختار نمونه­ی بلوری تعیین شد. میانگین اندازه­ی حجمی بلورک ها Å ۲۲۵ و مقدارکرنش شبکه، ۵- ۱۰×۶ به­دست آمد. سپس با استفاده از تابع توزیع لوگ نرمال اندازه­ی بلورک­ها، نقش پراش، شبیه سازی شد واطلاعات ریزساختاری آن تعیین شد. میانگین اندازه­ی حجمی و میانگین اندازه­ی سطحی بلورک­ها به­ترتیب، Å ۲۳۴ و Å۱۶۸ به­دست آمدند.

Keywords:

Authors

روح الله عقدایی

دانشکده فیزیک

مریم سلیمیان

دانشکده فیزیک

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Hart M., Cernik R. J., Parrish W., Toraya H., “Lattic ...
  • Estermann M. A., Gramlich V., “Improved Treatment of Severely or ...
  • Cox D. E., “Synchrotron Radiation Crystallography”, pp.۱۸۶-۲۵۴. (۱۹۹۲). New York: ...
  • Balzar D., audebrand N., Daymond M. R., Fitch A., Hewat ...
  • Cagliotti G., Paoletti A., Ricci F. P., "Choice of Collimators ...
  • Langford J. I., Wilson A. J. C.,”Scherrer after sixty years: ...
  • Williamson G. K., Hall W. H., "x ray line broadening ...
  • Finger L. W., Cox D. E., Jephcoat A. P., "A ...
  • Rietveld H.M., “Line Profiles of neutron Powder Diffraction Peaks for ...
  • Rietveld H. M., "A Profile Refinment Method For Nuclear and ...
  • Larson A. C., Von Dreele R. B., "General Structure Analysis ...
  • Wilson A. J. C., X-ray Optics, (۲ndedn) London. Methuen ...
  • Langford J. I., Louёr D., Scardi P., "Effect of a ...
  • Scardi P., Leoni M., Delhez R.,"Line broadening analysis using integral ...
  • Scardi P., Leoni M., "Line profile analysis: pattern modeling versus ...
  • Dong Y. H., Scardi P., "Marqx: a new program for ...
  • Hart M., Cernik R. J., Parrish W., Toraya H., “Lattic ...
  • Estermann M. A., Gramlich V., “Improved Treatment of Severely or ...
  • Cox D. E., “Synchrotron Radiation Crystallography”, pp.۱۸۶-۲۵۴. (۱۹۹۲). New York: ...
  • Balzar D., audebrand N., Daymond M. R., Fitch A., Hewat ...
  • Cagliotti G., Paoletti A., Ricci F. P., "Choice of Collimators ...
  • Langford J. I., Wilson A. J. C.,”Scherrer after sixty years: ...
  • Williamson G. K., Hall W. H., "x ray line broadening ...
  • Finger L. W., Cox D. E., Jephcoat A. P., "A ...
  • Rietveld H.M., “Line Profiles of neutron Powder Diffraction Peaks for ...
  • Rietveld H. M., "A Profile Refinment Method For Nuclear and ...
  • Larson A. C., Von Dreele R. B., "General Structure Analysis ...
  • Wilson A. J. C., X-ray Optics, (۲ndedn) London. Methuen ...
  • Langford J. I., Louёr D., Scardi P., "Effect of a ...
  • Scardi P., Leoni M., Delhez R.,"Line broadening analysis using integral ...
  • Scardi P., Leoni M., "Line profile analysis: pattern modeling versus ...
  • Dong Y. H., Scardi P., "Marqx: a new program for ...
    • نمایش کامل مراجع