ارزیابی قابلیت اطمینان مبدل های الکترونیک قدرت مبتنی بر شبکه های عصبی تکثیر کننده

سنجش قابلیت اطمینان مبدل های الکترونیک قدرت به دلیل عملکرد آنها تحت تنش های حرارتی و الکتریکی، اهمیت زیادی داشته و نیازمند کمی سازی است. محیط فضا به دلیل دامنه و سرعت زیاد تغییرات دما از جمله محیطهای پرتنش برای قطعات و تجهیزات الکترونیکی است. عملکرد هنجار یا ناهنجار یک مبدل براساس شرایط محیطی، ساخت و بهره برداری تعیین می شود. شاخص های خرابی فعلی تنها مبتنی بر داده های خرابی های قبلی بوده و بر اساس اطلاعات تاریخچه عملکرد مبدل محاسبه می شوند که فرآیند پیرشدگی به شدت بر آنها اثرگذار است. در این مقاله، با کمک داده های حاصل از پایش وضعیت مبدل به صورت زمان واقعی شاخصی جدید معرفی می شود. هر مبدل با استفاده از شبکه های عصبی تکثیرکننده مدلسازی شده و ضریب بازسازی شبکه یا خطای بازسازی به عنوان شاخص پایایی یا ضریب ناهنجاری مبدل لحاظ خواهد شد. در حقیقت، سنجش قابلیت اطمینان مبتنی بر قیاس بین یک مدل مرجع از شرایط سلامت مبدل و عملکرد ناهنجار آن در آینده صورت می پذیرد. در روش پیشنهادی یک تابع توزیع نرمال بر روی سیگنال خطای بازسازی شده، برازش و درصد فاصله آنها به عنوان ضریب ریسک ناهنجاری معرفی می-شود. مزایای این روش عبارتند از لحاظ نمودن تمامی عدم قطعیت ها در فرآیند ساخت کلید قدرت و شرایط کاری آن، عدم نیاز به فرآیند آزمون پیرشدگی در تهیه داده خرابی و لحاظ نمودن تمامی خرابی ها. در زیرسیستم توان الکتریکی فضاپیماها می توان با استفاده از روش فوق، قابلیت اطمینان مبدل های الکترونیک قدرت را بر اساس داده های اخذ شده از نمونه های کیفی ارزیابی نمود.

Keywords:

تخمین طول عمر مفید باقیمانده , کلیدهای قدرت نیمه هادی , شبکه های عصبی , تشخیص ناهنجاری