بررسی طیف جذبی پرتو ایکس نانو لایه های Co/Ru بر زیر لایه Si
Publish place: 5th Joint Conference of Iranian Society of Metallurgical Engineers and the scientific community of Casting
Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 706
This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IMES05_129
تاریخ نمایه سازی: 23 خرداد 1392
Abstract:
در این مقاله با تاباندن اشعه ایکس به نانو لایه Co/Ru بر روی لایه سیلسیم توسط کد محاسباتی وین، طیف جذبی نانو لایه را مورد بررسی قرار می دهیم . پرتو ایکس به دلیل انرژی زیاد آن، قابلیت دارد که با الکترون های مغزه عنصر مشخصی بتابد و باعث برانگیختگی آن شود. از آنجایی که طیف جذبی پرتو ایکس به طور مستقیم میزان برانگیختکی یک الکترون مغزه به حالت های اشغال نشده را اندازه گیری میکند، می توان با مقایسه طیف با چگالی حالت های الکترونی، ساختار الکترونی حالت های اضغال نشده آن اتم مشخص را به دست آوریم.
Keywords:
طیف جذبی اشعه ایکس , نانو لایه کبالت- روتینیوم
Authors
آمنه فرنود
دانشجوی کارشناسی ارشد فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک
زهرا نوربخش
استادیار فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک
امیر سید حسن روضاتیان
استادیار فیزیک ماده چگال، دانشگاه اصفهان، گروه فیزیک
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :