سیویلیکا را در شبکه های اجتماعی دنبال نمایید.

تحلیل برهمکنش گذرای نمونه- سوزن در میکروسکوپ نیروی اتمی پرسرعت ضربه ای به منظور جلوگیری از آسیب نمونه های نرم

Publish Year: 1398
Type: Journal paper
Language: Persian
View: 77

This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download

Export:

Link to this Paper:

Document National Code:

JR_MME-19-8_001

Index date: 11 March 2025

تحلیل برهمکنش گذرای نمونه- سوزن در میکروسکوپ نیروی اتمی پرسرعت ضربه ای به منظور جلوگیری از آسیب نمونه های نرم abstract

میکروسکوپ نیروی اتمی پرسرعت (HS-AFM) به دلیل دقت بالا و قابلیت تصویربرداری سه بعدی یکی از پرکاربردترین تکنیک های مورد استفاده در فناوری نانو است. علی رغم مزیت ها و غیرمخرب شناخته شدن این تکنیک، اگر ماکزیمم نیروی دافعه برهمکنش بیشتر از تنش شکست نمونه یا سوزن باشد آسیب نمونه یا سوزن محتمل خواهد بود. تاکنون مطالعات زیادی در مورد نیروهای دافعه در حالت ضربه ای انجام شده اما اکثرا در حالت پایدار بوده است. برای مواد نرم و در حالت گذرا هنگامی که سوزن ناگهان با یک پله رو به بالا مواجه می شود نیروی دافعه می تواند از حالت پایدار بیشتر بوده و در نتیجه باعث ایجاد آسیب به نمونه شود. بنابراین اگر مقادیر پارامترها به طور مناسب انتخاب نشود تنش نمونه- سوزن ممکن است از تنش تسلیم نمونه تجاوز کند. در این مقاله ماکزیمم نیروی برهمکنش گذرا در دو بازه زمانی جاذبه و دافعه با یکدیگر مقایسه و تحلیل اثر پارامترهای مهم اسکن روی ماکزیمم تنش گذرای مواد نرم در میکروسکوپ نیروی اتمی پرسرعت در شرایط گذرا به صورت تئوری انجام شده و نمودارهای دقت جانبی و سرعت اسکن نیز ارایه شده که از نوآوری های این تحقیق است به طوری که در میکروسکوپ پرسرعت نمونه های نرم با مدول الاستیسیته در محدوده ۲گیگاپاسکال به منظور پیشگیری از آسیب نمونه، استفاده از سفتی فنر در رنج ۱-۰/۱نیوتون بر متر، دامنه آزاد ۱۰۰-۶۰نانومتر، نسبت دامنه ۰/۹-۰/۸، فاکتور کیفیت ۱۰۰-۵۰، شعاع سوزن ۴۰-۱۰نانومتر و سرعت اسکن ۰/۳-۰/۱میلی متر بر ثانیه نسبت به رزولوشن مورد نظر توصیه می شود تا فرآیند اسکن به صورت ایمن و با نتایج دقیق انجام شود.

تحلیل برهمکنش گذرای نمونه- سوزن در میکروسکوپ نیروی اتمی پرسرعت ضربه ای به منظور جلوگیری از آسیب نمونه های نرم Keywords:

تحلیل برهمکنش گذرای نمونه- سوزن در میکروسکوپ نیروی اتمی پرسرعت ضربه ای به منظور جلوگیری از آسیب نمونه های نرم authors

حامد فداء

Mechanical Engineering Department, Engineering Faculty, Najafabad Branch, Islamic Azad University, Najafabad, Iran

علی سلیمانی

Mechanical Engineering Department, Engineering Faculty, Najafabad Branch, Islamic Azad University, Najafabad, Iran

حامد صادقیان

Department of Mechanical Engineering, Eindhoven University of Technology

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
Binnig G, Quate CF, Gerber Ch. Atomic force microscope. Physical ...
Binnig G, Gerber Ch, Stoll E, Albrecht TR, Quate CF. ...
Custance O, Perez R, Morita S. Atomic force microscopy as ...
Korayem MH, Esmaeilzadehha S, Rahmani N, Shahkarami M. Nano manipulation ...
Habibnejad Korayem M, Estaji M, Homayooni A. Molecular dynamic modeling ...
Naderi Sohi A, Naderimanesh H, Soleimani M. A comparative study ...
Tang Q, Shi SQ, Zhou L. Nanofabrication with atomic force ...
Liu M, Amro NA, Liu GY. Nanografting for surface physical ...
Sadeghian H, Herfst R, Winters J, Crowcombe W, Kramer G, ...
Sadeghian H, Herfst R, Dekker B, Winters J, Bijnagte T, ...
Borionettia G, Bazzalia A, Orizioa R. Atomic force microscopy: A ...
Maas DJ, Fliervoet T, Herfst R, van Veldhoven E, Meessen ...
Postek MT, Vladár A, Dagata J, Farkas N, Ming B, ...
Andoa T, Uchihashi T, Fukuma T. High-speed atomic force microscopy ...
Imamura M, Uchihashi T, Ando T, Leifert A, Simon U, ...
Schitter G, Menold P, Knapp HF, Allgower F, Stemmer A. ...
Herfst R, Dekker B, Witvoet G, Crowcombe W, de Lange ...
Keyvani A, Sadeghian H, Goosen H, Keulen FV. Transient Tip-Sample ...
Sadeghian H, van den Dool TC, Uzielc Y, Bar Orc ...
Jalili N, Laxminarayana K. A review of atomic force microscopy ...
Yang CW, Hwang IS, Chen YF, Chang CS, Tsai DP. ...
Guzman HV, Perrino AP, Garcia R. Peak forces in high-resolution ...
Guzman HV, Garcia R. Peak forces and lateral resolution in ...
Hu S, Raman A. Analytical formulas and scaling laws for ...
Vahdat V, Carpick RW. Practical method to limit tip_sample contact ...
Rodrı́guez TR, Garcı́a R. Tip motion in amplitude modulation (tapping-mode) ...
García R, San Paulo A. Attractive and repulsive tip-sample interaction ...
Tatara Y. Large deformations of a rubber sphere under diametral ...
Tatara Y. Extensive theory of force-approach relations of elastic spheres ...
Butt HJ, Kappl M. Surface and interfacial forces. Weinheim: Wiley; ...
Johnson KL. Contact Mechanics. Cambridge: Cambridge University Press; ۱۹۸۵ ...
Garcı́a R, Pérez R. Dynamic atomic force microscopy methods. Surface ...
Morita S, Giessibl FJ, Meyer E, Wiesendanger RE. Noncontact atomic ...
Keyvani A, Tamer MS, van Es MH, Sadeghian H. Simultaneous ...
Tamer MS, Sadeghian H, Keyvani A, Goosen JFL, van Keulen ...
نمایش کامل مراجع