مشخصه یابی و بررسی خواص الکتریکی نانو ساختار پروس پلی سیلیکان متخلخل و لایه نازک فتالوسیانین لایه نشانی شده بر آن
Publish place: The First National Conference on Innovations in Thin Film Processing and Their Characterization
Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,144
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
THINFILM01_003
تاریخ نمایه سازی: 3 آذر 1392
Abstract:
بررسی حساسیت پروس پلی سیلیکون و لایه ی نازکی از فتولوسیانین فلزی لایه نشانی شده برروی آن نسبت به افزایش دما به روش تغییر ولتاژ و اندازه گیری جریان در هر دما صورت می گیرد.فتالوسیانین فلزیی که در اینجا استفاده شده است،فتالوسیانین سرب است.این دو قطعه حساسیت های متفاوتی را نسبت به دما از خود نشان می دهند.
Keywords:
Authors
محمد اسماعیل عظیم عراقی
گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم ، تهران
آرمینه کروتی
گروه فیزیک دانشگاه تربیت معلم ، تهران