بهینه سازی قطر نانو سیم های اکسید روی با استفاده از مدل آماری آزمایش

Publish Year: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,416

This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

NANOSC02_245

تاریخ نمایه سازی: 27 دی 1385

Abstract:

در این تحقیق امکان بهینه سازی پارامتر قطر نانوسیم های اکسید روی با استفاده از روش مدل آماری آزمایش، بررسی شده است. ابتدا با مدل فاکتوریل جزیی و روش شناسی رویه سطح، تاثیر 6 پارامتر رشد بر روی متوسط قطر نانوسیم های اکسیدروی، بررسی شده اند . سپس با استفاده از مدل فاکتوریل جزیی با تفکیک پذیری 3، پارامترهای «زمان سنتز ، ضخامت کاتالیست و دمای سنتز» بعنوان پارامترهای کلیدی تاثیر گذار بر قطر نانوسیم ها شناخته شدند. سپس با به کار گیری مدل BBD، رویه پاسخ سیستم بصورت تابعی از پارامترهای کلیدی بدست آمد.

Keywords:

روش بخار , مایع , جامد , روش شناسی رویه سطح و نانوسیم های اکسید کننده

Authors

سپیده شفیعی

کاشان، دانشگاه کاشان، پژوهشکده علوم و فنون نانو

مصطفی زاهدی فر

کاشان، دانشگاه کاشان، پژوهشکده علوم و فنون نانو

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Rao CNR, Gundiah G, Deepak FL, Govindaraj A, Cheetham AK ...
  • Xia YN, Yang PD, Sun YG, Wu YY, Mayers B, ...
  • Shalish I, temkin H, N arayanamurti V 2004 Phys. Rev ...
  • Yang PD, Yan HQ, Mao S, Russo R, Johnson J, ...
  • Wang ZL 2003 Nanowires and Nanobelts, vol. 1: Metals and ...
  • Sun Y, Fuge GM, Ashfold MNR 2004 Chem. Phys. Lett. ...
  • Hu JQ, Li Q, Wong NB, Lee CS, Lee ST ...
  • Park WI, Yi GC, Kim MY, Pennycook SJ 2002 Adv. ...
  • Wu JJ, Liu SC 2002 Adv. Mater. 14 215 ...
  • Jo SH, Lao JY, Ren ZF, Farrer RA, ...
  • Baldacchini T, Fourkas JT 2003 Appl. Phys. Lett. 83 4821 ...
  • Kong YC, Yu DP, Zhang B, Fang W, Feng SQ ...
  • Dai Y, Zhang Y, Li QK, Nan CW 2002 Chem. ...
  • Lee CJ, Lee TJ, Lyu SC, Zhang Y, Ruh H, ...
  • Lyu SC, Zhang Y, Ruh H, Lee HJ, Shim HW, ...
  • Vayssieres L 2003 Adv. Mater.. 15 464 ...
  • Goh TN J Appl Statist 28 391-8, 2001 ...
  • Anderson M and Whitcomb P 2004 RSM Simplified, Optimizing Processes ...
  • Harmon L. J Mater Sci 38 4479-85, 2003 ...
  • B arglik-Chory C, Strohm CRH, Muller G J Phys Chem ...
  • Zamostny P, Belohlav Z Appl catal A- General 225 291-9., ...
  • نمایش کامل مراجع