لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
فناوریاطلاعات؛ دانش _ 3-5خرداد 1384 2000, vol.5, pp.2 17-220. ...
N. Jha and S.. Gupta, Testing of Digital Systems, Cambridge ...
E. J. McCluskey and F. W. Clegg, ،Fault equivalence in ...
Robert Chang, Sep Seyedi, Andreas Veneris _ Magdy S. Abadir, ...
M. E.Amyeen, W. K. Fucks, I. Pomeranz and V. Boppana, ...
T. Gruning, _ Mahlstedt, and H. Koopmeiners, ، DIATEST: A ...
A. Veneris, J. Liu, M. Amiri and M. S. Abadir, ...
A.Veneris, R.Chang, M.S.Abadir and S.Seyedi, ،Functional Fault Equivalence and Diagnostic ...
Amyeen, M.E.; Pomeranz, I.; and Fuchs, W.K., ، Theorems for ...
and evaluation techniques for Implication"؛ [9] M. E. Amyeen, W. ...
Test Pattern Generation for Sequential Diagnostic؛ [10] I. Hartanto, V. ...
A. V. S. S. Prasad, V. D. Agrawal, and M. ...
Veneris, A.; Chang, R.; Abadir, M.S.; Amiri, M.;، Fault equivalence ...
W. Kunz and D. K. Pradhan, ،#Recursive Learning: A New ...
Jia-Zhou He, Zhi-Hua Zhou, Xu-Ri Yin, Shi-Fu Chen, *Using Neural ...
D.R. Hush, C.T. Abdallahs, G.L. Heileman, and D. Docampo, ،Neural ...
Simon Haykin, Neural Networks: A Comp rehensive Foundation, Prentice Hall, ...
Ying Deng; Yigang He; Yichuang Sun, ،Fault diagnosis of analog ...
Mohammadi. K., Mohseni. A. R., ،Fault diagnosis of analog circuits ...
Samiha Mourad, Yervant Zorian, Principles of Testing Electronic Systems, John ...
نمایش کامل مراجع