طراحی لایه ی سد ترانزیستور AlGaAs/InGaAs PHEMT ازطریق بهینه سازی مشخصات DC و RF ترانزیستور

Publish Year: 1394
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 545

This Paper With 18 Page And PDF and WORD Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICMRS01_233

تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1395

Abstract:

در این مقاله لایه ی سد در ترانزیستورهای AlGaAs/InGaAs PHEMT که ماده ی AlGaAs بوده و طراحی آن در مشخصات خروجی افزاره بسیار اهمیت دارد مورد بررسی قرار گرفته است. به این منظور اثرات تغییر ضخامت لایه ی سد و تغییرات مقدار درصد مولی آلومینیوم در ترکیب سه تایی AlxGa1-xAs بررسی شده است. بررسی ها نشان می دهد با افزایش ضخامت لایه ی سد از 10 تا 60 نانومتر جریان درین افزایش یافته درحالیکه بیشینه ی هدایت انتقالی کاهش می یابد. بیشینه ی fT و fMAX در محدوده ی ضخامت 10 تا 30 نانومتر لایه ی سد رخ داده و بیشترین مقادیر آنها بترتیب GHz 8/48 وGHz 265 است. با افزایش درصد مولی آلومینیوم از 0/15 تا 0/4 مقدار جریان درین و بیشینه ی هدایت انتقالی کاهش می یابند. همچنین بیشینه ی fT و fMAX بترتیب GHz 40 و GHz 201 در درصد مولی آلومینیوم برابر 0/24 اتفاق می افتد. به منظور طراحی دقیق تر ترانزیستور، نحوه ی تغییرات نمودار هدایت انتقالی بررسی شده تا گستره ی مقدار غیر صفر هدایت انتقالی مشخص شود.

Keywords:

, GaAs PHEMT , طراحی لایه سد AlGaAs , ضخامت لایه ی سد , درصد مولی آلومینیوم

Authors

محسن حق پناه

دانشجوی کارشناسی ارشد برق الکترونیک، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

علیرضا عرفانیان

دانشیار دانشکده برق و الکترونیک، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

احمد عفیفی

دانشیار دانشکده برق و الکترونیک، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

سیدغیاث الدین طباطبایی پور

دانشیار دانشکده برق و الکترونیک، دانشگاه صنعتی مالک اشتر

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • [[1] R. L. Ross , S. P. Svensson and P. ...
  • "Influence of AlAs mole fraction on the electron [2] T. ...
  • M. Kameche , N.V. Drozdovski "GaAs-, InP- and GaN HEMT-BAS ...
  • P. Saunier , R. J. Matyi and K. Bradshaw _ ...
  • M. Kao "Very High Power-Added Efficiency and Low-Noise 0.15-pm Gate-Length ...
  • N. Mohd. Kharuddin, Student Member and B. Yeop Majlis "Electrical ...
  • Al0 .22Gao .7 8As/InO22Ga, 78As PHEMT with Gate Length in ...
  • Jin Zhi, Zhang Yuming, and Liu Xinyu "Impact , [7] ...
  • P. R. de la Houssaye "Electron Saturation Velocity Variation in ...
  • G. I. Ayzenshtat, V. G. Bozhkov, and A. Yu. Yushchenko ...
  • S. M. Sze and K. K. Ng Physics of Semiconductor ...
  • Pin Ho, Amani A. Jabra "DC and Microwae Characteristics of ...
  • Das, M.B. "HEMT device physics and models, in F. Ali ...
  • Wolf, P. "Microwave properties of S chottky-barrier field effect transistors" ...
  • Wesley Scott Newham, "Development of AlGaN/GaN High Electron Mobility Transistors ...
  • V. Palankovski and R. Quay, Analysis and Simulation of Heterostructue ...
  • Foisy, M.e., Tasker, PJ., Hughes, B., and Eastman, L.F. (1988) ...
  • نمایش کامل مراجع