ارزیابی عوامل خطا در آنالیز شیشه اوپال به روش فلورسانس اشعه ایکس (XRD) با بررسی اثر ماتریس نمونه و فازهای کریستالی
Publish place: 7th Iranian Ceramic Congress
Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 2,605
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICC07_118
تاریخ نمایه سازی: 10 فروردین 1388
Abstract:
در این تحقیق عوامل خطا در آنالیز شیشه های اوپال به روش فلورسانس اشعه ا یکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت. حضور فازها ی کریستالی در شیشه های اوپال و ماتریس پیچیده این شیشه آنالیز دقیق آن را با مشکلات فراوانی روبه رو می سازد. در این مقاله به کمک مدل پارامترهای اس اسی، اثر ماتریس نمونه برروی آنالیز مواد چند جزئی با فلورسانس اشعه ایکس (XRF) مورد بررسی قرار گرفت و ضرایب تأثیر i.ja که بر پایه فلورسانس اولیه و ثانویه می باشد، محاسبه گردید. با اعمال این مدل ریاضی و مقایسه آن با نمونه استاندارد SRM-01 نتایج قابل قبولی برای آنالیز شیشه اوپال بدست آمد. با بررسی داده های بدست آمده نتیجه گیری می شود که از اثر فلورسانس اولیه و ثانویه در مورد آنالیز Ba,Ca,Na,F,Si,Al,Zr,Fe در شیشه اوپال نمی توان صرفنظر کرد . همچنین با مطالعه فازها ی کریستالی تشکیل شده در ا ین شیشه با استفاده از XRD علت انحراف در آنالیز اکسیدی عناصر آشکار و ضریب تصحیح آنها نیز محاسبه گردید.
Keywords:
Authors
مهرداد دهرآزما
آزمایشگاه تکنولوژی شیشه، شرکت سپیده جام توس (گروه کارخانجات مقصود) شه
رضا ظهیری
دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان
پژمان خورشیدی
دانشکده زمین شناسی دانشگاه علوم پایه دامغان گروه شیمی دانشگاه آزاد ا
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :