بررسی دانه بندی رسوبات در ساختارهای لایه ای واقع در محدوده عمق نفوذ امواج رادار نفوذی به زمین (GPR)

Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,490

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

GCI14_022

تاریخ نمایه سازی: 17 آذر 1388

Abstract:

تفاوت کمیت و کیفیت دانه بندی رسوبات در ساختارهای لایه ای رسوبی زیر سطحی باعث ایجاد تباین بین ویژگی های الکتریکی (رسانندگی و گذردهی الکتریکی) ذرات دانه درشت و دانه ریز می شود. معمولاً به دلیل رسانندگی الکتریکی بالاتر ذرات رسوبی ریزدانه نسبت به مواد رسوبی درشت دانه، عمق نفوذ امواج رادار نفوذی به زمین (GPR) در محل وجود رسوبات ریزدانه به طور نسبی کمتر است. در این مطالعه سعی شده تا با استفاده از روش GPR، رسوبات زیر سطحی درشت دانه و ریزدانه از هم تمیز یا تفکیک داده شوند. در این مطالعه که در مناطق ساحلی جنوب شرقی دریاچه خزر انجام شده، با توجه به این که از دستگاه GPR با آنتن پوششی فرکانس نسبتاً بالا (250 مگاهرتز) استفاده شده، تفکیک پذیری رسوبات به طور نسبتاً خوبی انجام شده اگر چه عمق نفوذ امواج GPR به طور کلی کم بوده است

Authors

ابوالقاسم کامکارروحانی

دانشکده معدن ، نفت و ژئوفیزیک دانشگاه صنعتی شاهرود، شاهرود ،ایران

حبیب اله عشقی

دانشجوی کارشناسی ارشد ژئوفیزیک دانشگاه صنعتی شاهرود ، شاهرود ، ایران

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Kofman, R., Ronen, A., and Frydman, S., 2006, Detection of ...
  • Neal, A., 2003, Groun d-penetrating radar and its _ in ...
  • Xia, J., Franseen, E.K., Miller, R.D., Weis, T.V, and Byrnes, ...
  • نمایش کامل مراجع