مطالعه نظری روی دایک قائم نازک توسط آرایشهای مختلف خطی
Publish place: 14th Geophysics Conference of Iran
Publish Year: 1389
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 2,802
This Paper With 6 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
GCI14_038
تاریخ نمایه سازی: 17 آذر 1388
Abstract:
در این تحقیق با استفاده از تئوری تصویر به تعیین محل و آشکارسازی محل دایک قائم نازک پرداخته شده و تغییرات جانبی مقاومت ویژه با عملیات پروفیلزنی مورد ارزیابی قرار گرفته است. نتایج حاصله با استفاده از آرایههای ونر، شلومبرژه، نیم شلومبرژه و دوقطبی-دوقطبی مورد بررسی قرار گرفته است.ابتدا برای وضعیتهای مختلف الکترودها پتانسیل محاسبه شده و سپس برای بدست آوردن مقاومت ویژه ظاهری برنامهای با نرم افزار (MATLAB) تهیه شده و توسط آن تغییرات مقاومت ویژه ظاهری نسبت به فاصله نقطه وسط الکترودهای پتانسیل تا مرکز دایک برای K های (ضرایب بازتاب) مختلف رسم شده است. در نهایت آشکارسازی دایک برای مقاومت ویژههای متفاوت با آرایههای مختلف مورد بررسی و مقایسه قرار گرفته است
Authors
نیکو نیک بین
کارشناس ارشد ژئوفیزیک دانشگاه آزاد اسلامی واحد تهران شمال
میرستار مشین چی اصل
عضو هیئت علمی دانشگاه آزاد اسلامی واحد علوم و تحقیقات