بررسی خواص دی الکتریکی سیلیکان متخلخل

Publish Year: 1388
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 821

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

IPC88_375

تاریخ نمایه سازی: 28 دی 1388

Abstract:

تخلخل هایی با روش الکتروشیمیایی و با استفاده از محلول الکترولیت اتانول و اسید HF بر روی پایه های سیلیکان نوع p ایجاد گردید. با استفاده از اندازه گیری درصد تخلخل و نیز محاسبه ظرفیت دی الکتریک، رابطه بین این دو پارامتر در سیلیکان متخلخل بررسی گردید. در این مطالعه مشخص شد که افزایش زمان خوردگی موجب افزایش درصد تخلخل شده که کاهش ظرفیت دی الکتریک سیلیکان متخلخل را سبب می شود.

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Douglas M.Smith, Teresa Ramos, Kevin H.Roderick, 2002 , Simplified for ...
  • Silica, US Patent, US 6, 495, 906 B2 _ ...
  • Valance, A. , 1997, Theoretical model for early stages of ...
  • Axelrod, E., Givant, A., Shappir, J., Feldman, Y. and _ ...
  • نمایش کامل مراجع