شناسایی سریع محصول آلوده به سم آفت کش با روش های نوین فناوری آزمون غیرمخرب

آفت کش ها یا سموم شیمیایی که برای کنترل آفت ها و بیماری های گیاهی استفاده می شوند، اگر چه سبب افزایش کارایی تولید محصول هستند، می توانند محیط زیست و مواد غذایی را آلوده کنند. استفاده بیش از حد و نادرست آفت کش ها در طول تولید، عدم توجه به دوره کارنس سموم، برداشت زودهنگام محصولات سم پاشی شده و ارائه آنها به بازار، و فروش این محصولات بلافاصله یا در مدت زمان کوتاهی پس از سم پاشی، منجر به افزایش باقی مانده سموم در آنها از حد مجاز می شود که مخاطرات جدی برای سلامت و ایمنی مصرف کننده در پی دارد. به منظور حفظ سلامت عمومی، شناسایی و تعیین آلودگی محصولات کشاورزی (به ویژه میوه ها و سبزی ها) به سموم آفت کش بسیار ضروری است. در حال حاضر برای اندازه گیری غلظت باقی مانده سموم، از روش های مخرب مختلفی استفاده می شود که بسیار پرهزینه و زمان بر هستند و نیاز به نیروی متخصص و آموزش دیده و آزمایشگاه های پیشرفته دارند. بنابراین، توسعه یک روش غیرمخرب سریع، ساده، کم هزینه، ناآلاینده و قابل اعتماد به منظور تشخیص باقی مانده سموم آفت کش بسیار ضروری است. در این مقاله، ضمن ارائه پیشرفت های نوین در فناوری آزمون غیرمخرب که می توانند برای شناسایی سریع محصول آلوده به سموم شیمیایی استفاده شوند، به معرفی سامانه نوین و قابل حمل طراحی شده برای این منظور مبتنی بر روش اپتیکی اسپکتروسکوپی فروسرخ نزدیک پرداخته شده است.

Keywords:

اسپکتروسکوپی , باقی مانده سم , تصویربرداری ابرطیفی , فناوری آزمون غیرمخرب , فروسرخ نزدیک