اثر توپوگرافی در تعیین ژئویید با استفاده از مدل های ژئوپتانسیل

وجود توپوگرافی در بالای ژئویید مانع بزرگی برای تعیین ارتفاع ژئویید با استفاده از مدل های ژئوپتانسیل محسوب می گردد. مدل های ژئوپتانسیل جهانی امکان مدل سازی میدان پتانسیل زمین را به صورت بسط سری خارجی از هارمونیک های کروی فراهم می سازند. استفاده از این بسط برای تعیین آنومالی پتانسیل بروی ژئویید در داخل توپوگرافی سبب تولید یک بایاس می شود که به آن بایاس توپوگرافی می گویند. در این مطالعه به دوروش، انتقال تحلیلی و رپ جهت محاسبه بایاس توپوگرافی پرداخته می شود. این دو روش برای 490 نقطه GPS-Levelling در یک منطقه کوهستانی امریکا مورد ارزیابی قرار گرفت. بیشینه مقدار بایاس توپوگرافی در روش انتقال تحلیل و رپ به ترتیب 1.302 و 1.554 متر بدست آمد. نتایج نشان داد که ژئویید حاصل از دو روش مطابقت خوبی با دقت سانتی متر بر یکدیگر دارند که در قیاس با ژئویید هندسی حاصل از داده های GPS-Levelling، برتری دقت روش انتقال تحلیلی به میزان 3.4 سانتی متر در خطای جذر میانگین مربعات حاصل گردید.

Keywords:

انتقال تحلیلی , بایاس توپوگرافی , ژئویید , مدل ژئوپتانسیل