ISI Papers
- "Study and Calculation Electrical Properties of Silver Thin Layers by Four- Point Probe Method", OMICS Publishing Group, (2017), Vol 04, No 01:
- "Demonstrating existence of one suitable oxide phase concurrent with formation of Ti/p-Si Schottky junction by comparing direct calculation with analysis", Emerald, (2017), Vol 14, No 4: 284-288
Conference Papers
- مطالعه تاثیر ضخامت بر ویژگی های الکتریکی دیودهای شاتکی نقره/سیلیکون ساخته شده به روش تبخیر حرارتی ارائه شده در 1st National Conference on Development of Civil Engineering, Architecure,Electricity and Mechanical in Iran (1393)
- ساخت و محاسبه پارامترهای دیود شاتکی تیتانیم / سیلیکون به روش کندوپاش مغناطیسی DC ارائه شده در 1st Iranian National Conference Electerical Engineering (1392)