ناشر تخصصی کنفرانس های ایران

لطفا کمی صبر نمایید

Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings

Please waite ..
CIVILICAWe Respect the Science
Publisher of Iranian Journals and Conference Proceedings
Paper
Title

بررسی خواص دی الکتریکی لایه‌های نانوساختار Bi4Ti3O12 و Bi12TiO20 تهیه شده به روش سل- ژل

Year: 1397
COI: JR_JMME-30-1_003
Language: PersianView: 23
This Paper With 14 Page And PDF Format Ready To Download

Buy and Download

با استفاده از پرداخت اینترنتی بسیار سریع و ساده می توانید اصل این Paper را که دارای 14 صفحه است به صورت فایل PDF در اختیار داشته باشید.
آدرس ایمیل خود را در کادر زیر وارد نمایید:

Authors

عباس صادق زاده عطار - دانشگاه کاشان

Abstract:

هدف از این تحقیق، سنتز و مشخصه یابی لایه‌های نانوساختار تیتانات بیسموت با دو ترکیب Bi4Ti3O12 و Bi12TiO20 به روش سل- ژل  می باشد. همچنین تغییرات خواص دی الکتریک نمونه‌های تهیه شده با دمای آنیل و فرکانس اعمالی مورد بررسی و ارزیابی قرار گرفت. در این راستا دو محلول سل مختلف با نسبت‌های مولار مشخص از مواد اولیه به روش سل- ژل تهیه و پس از لایه نشانی خشک و سپس در دماهای مختلف 300 تا 700 درجه سانتیگراد آنیل شدند. به منظور بررسی ساختار و خواص لایه‌های سنتز شده از دستگاه‌های آنالیز طیفسنج مادون قرمز، پراش اسعه ایکس، میکروسکوپ الکترونی روبشی، طیف سنجی پراش انرژی پرتو ایکس و LCRمتر استفاده شد. بررسی‌های فازی نمونه‌ها به وسیله پراش اسعه ایکس حاکی از تشکیل ترکیبات Bi4Ti3O12 با ساختار اورتورومبیک و Bi12TiO20 با ساختار مکعبی می‌باشند که در دمای600 درجه سانتیگراد به مدت یک ساعت به طور کامل کریستاله شده‌اند. نتایج آزمایشات خواص دی الکتریک نشان داد که با افزایش دمای آنیل، ثابت دی الکتریک و اتلاف دی الکتریک در هر دو نمونه افزایش یافتند. همچنین با افزایش فرکانس، ثابت دی‌الکتریک نمونه‌ها کاهش و تلفات دی الکتریک آن‌ها افزایش می‌یابد.

Keywords:

تیتانات بیسموت, لایه نانوساختار, فرایند سل- ژل, ریزساختار, خواص دی الکتریک, مشخصه‌یابی

Paper COI Code

برای لینک دهی به این Paper می توانید از لینک زیر استفاده نمایید. این لینک همیشه ثابت است و به عنوان سند ثبت Paper در مرجع سیویلیکا مورد استفاده قرار میگیرد:

https://civilica.com/doc/1131696/

How To Citation:

در صورتی که می خواهید در اثر پژوهشی خود به این Paper ارجاع دهید، به سادگی می توانید از عبارت زیر در بخش منابع و مراجع استفاده نمایید:
صادق زاده عطار، عباس،1397،بررسی خواص دی الکتریکی لایه‌های نانوساختار Bi4Ti3O12 و Bi12TiO20 تهیه شده به روش سل- ژل،،،،،https://civilica.com/doc/1131696

در داخل متن نیز هر جا که به عبارت و یا دستاوردی از این Paper اشاره شود پس از ذکر مطلب، در داخل پارانتز، مشخصات زیر نوشته می شود.
برای بار اول: (1397، صادق زاده عطار، عباس؛ )
برای بار دوم به بعد: (1397، صادق زاده عطار؛ )
برای آشنایی کامل با نحوه مرجع نویسی لطفا بخش راهنمای سیویلیکا (مرجع دهی) را ملاحظه نمایید.

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود مPaperقاله لینک شده اند :

  • Lallart, M., "Ferroelectrics-Applications", Published by InTech, Rijeka, Croatia, (2011). ...
  • Scott, J.F., "Applications of modern ferroelectrics", Science, Vol. 315, pp. ...
  • Aurivillius, B., "Mixed bismuth oxides with layer lattices; II, structure ...
  • Aurivillius, B. P. and Fang, H.,"Ferroelectricity in the compound Ba2Bi4Ti5O18", ...
  • Liu, Y., Zhang, M., Li, L. and Zhang, X., "One-dimensional ...
  • Coondoo, I., "Ferroelectrics", Published by InTech, Rijeka, Croatia, (2010). ...
  • Pavlović, N., Kancko, D., Szecsenyi, K.M. and Srdić, V.V., "Synthesis ...
  • Jeong, B.-Jik, Joung, M.-Ri, Kim, J.-Seong, Nahm, S., Choi, J.-Won ...
  • Alfonso, J.E., Olaya, J.J., Bedoya-Hincapie, C.M., Toudert, J. and Serna, ...
  • Joung, M.-Ri, Jeong, B.-Jik, Kim, J.-Seong, Woo, S.-Ran, Park, H.-Min ...
  • Shi, H., Tan, H., Zhu, W.-bin, Sun, Z., Ma, Y. ...
  • Fu, B., Zhang, Y., Hong, M., Jiang, F. and Cao, ...
  • Sui, H.T., Yang, D.M., Jiang, H., Ding, Y.L. and Yang, ...
  • Kao, M.-Cheng, Chen, H.-Zern and Young, S.-Lin, "The microstructure and ...
  • Hou, J., Wang, Z., Yang, C., Zhou, W., Jiao, S. ...
  • Zhao, W., Zhang, C., Liu, Y., Huang, X. and Mao, ...
  • Sun, B.-Cheng, Wang, H., Xu, J.-Wen, Yang, L., Zhou, S.-Ju, ...
  • Slavov, S.S., Krapchanska, M.Z., Kashchieva, E.P., Parvanov, S.B. and Dimitriev, ...
  • Jarsiel, T., Caballero, A.C. and Villegas, M., "Aurivillius ceramics: Bi4Ti3O12-based ...
  • Megriche, A., Lebrun, L. and Troccaz, M., "Materials of Bi4Ti3Ol2 ...
  • He, H., Yin, J., Li, Y., Zhang, Y., Qiu, H., ...
  • Subohi, O., Kumar, G.S., Malik, M.M. and Kurchania, R., "Synthesis ...
  • Zarycka, A., Lisinska-Czekaj, A., Czuber, J., Orkisz, T., Ilczuk, J. ...
  • Subohi, O., Kumar, G.S., Malik, M.M. and Kurchania, R., "Optical ...
  • Valant, M. and Suvorov, D., "A stoichiometric model for sillenites", ...
  • Hu, Y. and Sinclair, D.C., "Relaxor-like dielectric behavior in stoichiometric ...
  • Marinova, V., Hsieh, M.-Li, Lin, S.H. and Hsu, K.Y., "Effect ...
  • Sebastian, M.T. and Jantunen, H., "Low loss dielectric materials for ...
  • Yao, W.F., Wang, H., Xu, X.H., Cheng, X.F., Huang, J., ...
  • Shen, C., Zhang, H., Zhang, Y., Xu, H., Yu, H., ...
  • Tasaki, Y., Sekita, Y., Tanaka, T., Yoshizawa, S., Yoda, K. ...
  • Bedoya-Hincapie, C.M., Restrepo-Parra, E., Olaya-Florez, J.J., Alfonso, J.E., Flores-Ruiz, F.J. ...
  • Ramesh, R., Luther, K., Wilkens, B., Hart, D.L., Wang, E., ...
  • Theis, C.D., Yeh, J., Schlom, D.G., Hawley, M.E., Brown, G.W., ...
  • Kao, M.C., Chen, H.Z., Young, S.L., Chuang, B.N., Jiang, W.W., ...
  • Harjuoja, J., Vayrynen, S., Putkonen, M., Niinisto, L. and Rauhala, ...
  • Zhang, H., Lü, M., Liu, S., Xiu, Z., Zhou, G., ...
  • Z. Lazarević, B.D. Stojanović, J.A. Varela, "An approach to analyzing ...
  • Koch, C.C., "Nanostructured Materials, Processing, Properties and Potential Applications", Noyes ...
  • Yoleva, A., Djambazov, S., Ivanova, Y. and Kashchieva, E., "Sol-gel ...
  • Srdic, V.V., Mojic, B., Bajac, B., Rakic, S. and Pavlovic, ...
  • Chen, Y., Zhao, G., Liang, H. and Xia, W., "Synthesis ...
  • Joint Committee on Powder Diffraction Standard (JCPDS), International Center for ...
  • Cullity, B.D., "Elements of X-ray Diffraction", Addison Wesley pub., Menlo ...
  • Moulson, A.J. and Herbert, J.M., "Electroceramics", 2nd Edition, John Wiley ...
  • Buessem, W.R., Cross, L.E. and Goswami, A.K., "Phenomenological theory of ...
  • Khollam, Y.B., Deshpande, S.B., Potdar, H.S., Bhoraskar, S.V., Sainkar, S.R. ...
  • Li, Y.L., Chen, L.Q., Asayama, G., Schlom, D.G., Zurbuchen, M.A. ...
  • Research Info Management

    Certificate | Report | من نویسنده این مقاله هستم

    اطلاعات استنادی این Paper را به نرم افزارهای مدیریت اطلاعات علمی و استنادی ارسال نمایید و در تحقیقات خود از آن استفاده نمایید.

    علم سنجی و رتبه بندی Paper

    مشخصات مرکز تولید کننده این Paper به صورت زیر است:
    نوع مرکز: دانشگاه دولتی
    تعداد مقالات: 5,409
    در بخش علم سنجی پایگاه سیویلیکا می توانید رتبه بندی علمی مراکز دانشگاهی و پژوهشی کشور را بر اساس آمار مقالات نمایه شده مشاهده نمایید.

    Share this page

    More information about COI

    COI مخفف عبارت CIVILICA Object Identifier به معنی شناسه سیویلیکا برای اسناد است. COI کدی است که مطابق محل انتشار، به مقالات کنفرانسها و ژورنالهای داخل کشور به هنگام نمایه سازی بر روی پایگاه استنادی سیویلیکا اختصاص می یابد.

    کد COI به مفهوم کد ملی اسناد نمایه شده در سیویلیکا است و کدی یکتا و ثابت است و به همین دلیل همواره قابلیت استناد و پیگیری دارد.

    Support