لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
Bagatin, M.E., Gerardin, S. (Ed.), Ionizing Radiation Effects in Electronics, ...
Hönniger, F., Radiation damage in silicon: Defect analysis and detector ...
Shoorian, S., Jafari, H. and Feghhi, S.A.H., "Investigating and Calculating ...
Srour, J.R., Marshall, C.J. and Marshall, P.W., "Review of Displacement Damage Effects ...
Dale, C.J., et al., "A comparison of Monte Carlo and ...
Messenger, S.R., Xapsos, M.A., Burke, E.A., Walters, R.J. and Summers, G.P., "Proton Displacement ...
Summers,G.P., Burke, E.A., Shapiro, P., Messenger, S.R., and Walters, R.J., "Damage correlations in ...
Jun, I., Xapsos, M.A., Messenger, S.R., Burke, E.A., Walters, R.J., ...
Srour, J.R. and Palko, J.W., "A Framework for Understanding Displacement ...
[۱۰]Li, H. and et al., "The evolution of interaction between ...
Shoorian, S., Jafari, H. and Feghhi, S.A.H., "Investigating and calculating ...
[۱۲]OMERE website. Available, [on line]: http://www.trad. fr/OMERE-Software.html ...
[۱۳]User manual of Silvaco ATLAS– Device Simulation Software [online documents], ...
[۱۴]Agostinelli, S. and et al othetrs, "GEANT۴ - a simulation ...
[۱۵]Silvaco International, ATLAS User's Manual (vol I & II), ۱۹۹۸ ...
[۱۶]James F., Ziegler, M. D. and Biersack, J. P. Ziegler, ...
Shockley, W. and W.T. Read, "Statistics of the Recombinations of ...
Dowell, J.D.H., Kenyon, R. J., Mahout, I. R. and et ...
[۱۹]Akkerman, A. and et al., "Updated NIEL calculations for estimating ...
Jafari, H. and Feghhi, S.A.H., "Analytical modeling for gamma radiation ...
[۲۱]Thomas L. Floyd, Y.Y., Yanhui Zhang, Electronic Devices. ۸th ed. ...
S. Sedra, A. and C.Smith, K., Microelectronic Circuits, USA: Oxford ...
Abarbakooh, A. L. and et al., Measurement of proton energy ...
نمایش کامل مراجع