پیاده سازی یک مدار BIST قابل برنامه ریزی برروی FPGA به کمک زبان توصیف سخت افزاری Verilog

Publish Year: 1390
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 2,561

متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

NCSCIT02_129

تاریخ نمایه سازی: 17 اردیبهشت 1391

Abstract:

مدارات خودتست کننده توکار BIST روشی برای تست مدارات دیجیتال است نوع معماری این مدارات BIST متناسب با مدار تحت تست انتخاب می شوددراین مقاله ابتدا 2 روش تست مدارات ترکیبی BEST , CSBL به کمک زبان توصیفی Verilog بطور جداگانه برروی تراشه fpga از خانواده SPARTAN3 شرکت Xilinxe پیاده سازی شده سپس معماری پیشنهادیدراین مقاله که یک مدار BIST قابل برنامه ریزی است پیاده سازی شده است مدار BIST قابل برنامه ریزی پیشنهادی ترکیبی از 2 روش BEST , CSBL است و می تواند یک مدار تحت تست CUT را با هر 2 روش BEST , CSBL بصورت online تست نماید و نتیجه را درپایه خروجی failure این مدار نشان دهد تمامی پیاده سازی ها برای تست یک مدار دیکدر 3*8 انجام شده است و نتایج بدست آمده نشان میدهد معماری ارایه شده در مقایسه با مداراتی که معماری BEST , SCBL بطور مجزا برروی FPGA پیاده سازی شده است از نظر فرکانس و حجم تراشه بهبود یافته است.

Keywords:

مدارات دیجیتال , آزمون و آزمون پذیری خطا , مدارات BIST , گیتهای آرایه ای قابل برنامه ریزی FPGA

Authors

مقداد محمدی

گروه برق دانشگاه شهیدچمران اهواز

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • Z. Navabi "Digital System Test and Testable Design". 1st ...
  • B. Bemnetts, "Built-in self test backgrounder, " Logic Vision's Article, ...
  • B. Koenemann, :LFSR-coded test patterns for scan designs, " in ...
  • L. Wang, "Circuits for built-in self-test, " Ph.D. dissertation, Stanford ...
  • P. Bardell, "Analysis of cellular automata used as a pseudo- ...
  • J. Li, X. Sun, and K. Soon, "Tree-structue linear cellular ...
  • R.Ayanzadeh. Y.Moghaddas. S.Setayeshi. K.Hassani. H.Gheiby." Multi-layer cellular automata for generating ...
  • multipl ier/accumulator based output respons analyzer in built- in analog ...
  • Alfred Crouc h, _ Des ign-For-Test For Digital IC"s and ...
  • D.Chen, Xiaoling Sun. _ On effectiveness of phase shifters for ...
  • Savir J, McAnney WH (1985) On the masking probability with ...
  • Hayes JP. :Transition count testing of combinationl logic circuits". IEEE ...
  • Das SR, M.Sudarma, MH.Assaf, EM.Petriu, Jone W-B, M.Chakrabarty, M.Sahinoglu _ ...
  • data compaction and built-in self-testing of VLSI circuits with nonexhaustive ...
  • Peterson WW, Weldon EJ Jr (1972) E ror-correcting codes. MIT ...
  • Hassan SZ, McCluskey EJ (1984) Increased faul coverage through multiple ...
  • Fault-Tolerat Computing Symposium, pp 354-359, June 1984 ...
  • Williams TW, Daehn W. Gruetzner M, Starke CW (1987) ...
  • Aliasing errors in signature analysis registers. IEEE Des Test Edition., ...
  • R. HariKrishnan, A.Krishnan, B.Sruthi. "B.32-bit reconfigurable logic-BIST design using Verilog ...
  • N.Q.Mohd Noor, A. Saparon, Y .Yusof. "Programmable MBIST Merging FSM ...
  • A.Fradi, M.Nicsolaidis, L.Anghel. "Memory BIST with address programmab ility" in ...
  • Zhiquan Zhang, Zhiping Wen, Lei Chen, Tao Zhou, Fan Zhang. ...
  • نمایش کامل مراجع