ساخت و مشخصه یابی نانو سیم های ZnO به روش VLS
Publish place: 08th Iranian Seminar on Surface Engineering
Publish Year: 1386
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 2,476
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
ISSE08_087
Index date: 16 November 2012
ساخت و مشخصه یابی نانو سیم های ZnO به روش VLS abstract
در این تحقیق، ساخت نانو سیم های اکسید فلزی XnO، به وسیله مکانیزم رشد VLS (بخار- مایع- جامد) بر روی زیرلایه سیلیکان تک کریستال (Si(100، پوشیده از طلا (به عنوان کاتالیست) بررسی گردید. لایه کاتالیستی Au با دو ضخامت متفاوت 7nm و 15nm با استفاده از روش تبخیر حرارتی، بر روی زیر لایه Si نشانده شد. زیر لایه های با ضخامت متفاوت، در محیطی احیا کننده پخت گردیدند. این دو به همراه زیر لایه پخت نشده، در کنار پودر ZnO و در محیط گاز N2 تحت عملیات حرارتی قرار می گیرند. به منظور مشاهده نانو سیم های رشد داده شده و تعیین قطر و طول آنها از میکروسکوپ الکترونی روبشی SEM و برای بررسی توپوگرافی و ساختار سطحی لایه های کاتالیستی از میکروسکوپ نیروی اتمی AFM و برای تعیین ساختار شیمیایی سطح، از آنالیز XPS استفاده شده است. از بررسی تصاویر میکروسکوپ SEM و AFM ، به ترتیب قطر متوسط نانو سیم ها nm 70-100 طول متوسط آنها در حدود 4µm و قطر متوسط نانو ذرات کاتالیستی 70nm تشخیص داده می شود. همچنین تحلیل تصاویر آنالیز XPS وجود اکسید روی بر روی سطح را، اثبات می کند. مقایسه و تحلیل نتایج بدست آمده از دو زیر لایه با ضخامت های متفاوت طلا و دو زیر لایه هم ضخامت، نشان می دهد که با افزایش ضخامت لایه کاتالیستی، قطر نانو سیم ها افزایش می یابد و از سویی دیگر، پخت زیر لایه ها، سبب تولید نانوسیم هایی با توزیع یکنواخت قطری، بر روی سطح می شود.
ساخت و مشخصه یابی نانو سیم های ZnO به روش VLS Keywords:
ساخت و مشخصه یابی نانو سیم های ZnO به روش VLS authors
مریم روزبهی
دانشجوی کارشناسی ارشد - دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده فیزیک
پروانه سنگ پور
دانشجوی دکتری - دانشگاه صنعتی شریف، دانشکده فیزیک
امید اخوان
استادیار دانشگاه صنعتی شریف دانشکده فیزیک
علیرضا مشفق
استاد دانشگاه صنعتی شریف دانکده فیزیک و پژوهشکده علوم و فناوری نانوشر