یک بررسی کامل و اجمالی بر علل خرابی و مکانیسم های مقاوم سازی لامپ های کم مصرف (LED)

این تحقیق و مقاله مطالعه ای دقیق و موثر بر تخریب لامپ های مقاوم سازی شده بر اساس دیودهای گسیل نور سفید GaN را توصیف می کند. نتایج این تحقیق و مطالعه نشان می دهد که طول عمر لامپ های LED بیشتر به پایداری درایور و عناصر نوری بستگی دارد، نه به تخریب تراشه های LED، که خروجی پایداری در زمان تنش دارند. با مقایسه لامپ های چهار تولید کننده مختلف که در دمای اتاق و دمای بالا استرس داشتند، می توان متوجه شد که: ۱-تنش طولانی مدت باعث تغییر خواص رنگی لامپ ها می شود که به تخریب فسفرها یا بازتابنده LED داخلی نسبت داده می شود. ۲-در طول کهنه شدن، درایور LED ممکن است به تدریج و/یا به طور فاجعه بار تخریب شود و باعث کاهش توان نوری خروجی یا خرابی کامل شود. ۳-مدیریت حرارتی مناسب و اتلاف گرما میزان تخریب را کاهش می دهد. ۴-اندازه گیری های انتقال طیفی و بازرسی بصری، تخریب عناصر نوری پراکنده را نشان می دهند که توسط سمت طول موج کوتاه طیف انتشار LED ایجاد می شود.

Keywords:

قابلیت اطمینان , لامپ های کم مصرف LED مقاوم سازی شده , لامپ انتشاری , فسفر , درایور LED