تمام جمع کننده های تحمل پذیر اشکال نانومتری در تکنولوژی اتوماتای سلولینقطه - کوانتومی

Publish Year: 1402
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 76

This Paper With 30 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICPCONF09_093

تاریخ نمایه سازی: 8 مهر 1402

Abstract:

فضای اشغالی (Occupied Area) ، توان مصرفی (Power Consumption) و تاخیر (Delay) از جمله پارامترهایبسیار مهم و تاثیرگذار در پیاده سازی مدارات مجتمع محسوب می شوند. فناوری اتوماتای سلولی نقطه کوانتومی( Quantum-Dot Cellular Automata) یکی از فناوری های نوظهور جهت پیاده سازی مدارات در مقیاس نانو میباشد که به دلیل فضای اشغالی و توان مصرفی بسیار پایین و نیز سرعت بسیار بالا، به عنوان یکی از بهترینفناوری های جایگزین برای مدارات برپایه Oxide Semiconductor-Complementary Metal CMOS می باشد.یکی از چالش های اساسی در تکنولوژی اتوماتای سلولی نقطه کوانتومی، وقوع اشکالات مختلف در زمان پیادهسازی مدرات است. بنابراین طراحی مدرات با قابلیت تحمل پذیری اشکال در این نانو تکنولوژی به عنوان یکمسئله اساسی مورد توجه محققین قرار گرفته است. مدار تمام جمع کننده به عنوان یکی از مدرات پایه ای درسیستم های دیجیتال محسوب می شود. وجود یک مدار تمام جمع کننده با قابلیت تحمل پذیری اشکال می تواندقابلیت اطمینان را در سیستم های دیجیتالی را افزایش دهد. در این مقاله به معرفی و بررسی جامع تعدادی ازکارامد ترین مدارات تمام جمع کننده با قابلیت تحمل پذیری اشکال پرداخته خواهد شد.

Authors

فاطمه اکبریان

کارشناسی ارشد معماری سیستم های کامپیوتری، دانشگاه آزاد اسلامی واحد دهلران

محمد مصلح

دکترای معماری کامپیوتر عضو هیئت علمی گروه مهندسی کامپیوتر،دانشکده کامپیوتر،دانشگاهآزاد اسلامی واحد دزفول