بررسی مکانیزم های کنتراست میکروسکوپ الکترونی عبوری ) TEM ( در تصویر برداری از نانو مواد
Publish place: 1st Conference on Nano Technology Application in the petroleum and Petromical Industries
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 4,278
This Paper With 8 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
MUBNANO01_016
تاریخ نمایه سازی: 19 دی 1391
Abstract:
در میکروسکوپ نوری، معمولاً برهم کنش های بین نور و نمونه نادیده گرفته می شود. کافی است که نور به اندازه لازم از نمونه عبور ویا از سطح نمونه بازتاب نماید تا بتوان تصویر را به آسانی مشاهده نمود. الکترون ها نه تنها قابلیت فراهم آوردن اطلاعات درباره سطوح نانو ذرات را دارند، بلکه در تهیه تصویر از سطح نیز به کار گرفته می شوند و آنها این نقش را در میکروسکوپ های الکترونی بازی می کنند. با این حال الکترون ها در حین عبور از نمونه ممکن است با آن بر هم کنش داشته باشند. اگر شیئی در محل مشخصی قرار گیرد، تصویر آن در محل مشخص دیگری تشکیل می شود که در این محل می توان صفحه نمایش و دوربین را قرار داد و نیازی به تنظیم دقیق این محل وجود ندارد زیرا عمق فوکوس بسیار بزرگ است. اپتیک هندسی برای توجه به بزرگنمایی، عمق میدان و شرائطکانونی یک میکروسکوپ بسیار مفید است اما برای تفسیر تصویر بدست آمده تقریباً بی فایده خواهد بود، لذا باید مکانیزم های کنتراست که می توانند بیانگر این موضوع باشند که چه چیزی در تصویر تیره یا روشن دیده می شود، را مورد بررسی قرار داد
Keywords:
Authors
علیرضا محمدی نژاد
گروه شیمی کاربردی دانشگاه آزاد اسلامی واحد کرج
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :