تحلیل فرکتالی ویژگی های سطح لایه های نازک اکسید ایندیوم قلع
Publish place: The Physics Society Of Iran، Vol: 12، Issue: 3
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله ژورنالی
زبان: Persian
View: 73
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
JR_PSI-12-3_008
تاریخ نمایه سازی: 8 آبان 1402
Abstract:
در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیوم آلاییده با قلع ( ITO ) در ضخامت های مختلف به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی بستره شیشه ای در دمای اتاق تهیه شده است. ضخامت لایه ها ۱۰۰ ، ۱۵۰ و ۲۵۰ نانومتر می باشد. با استفاده از تحلیل فرکتالی، فرآیند رشد لایه (افزایش ضخامت) بر خصوصیات مورفولوژیکی سطح در حالت آمورف مورد بررسی قرار گرفت. مشاهده شد که با افزایش ضخامت، ناهمواری سطح ( RMS ) w و طول همبستگی عرضی x کاهش پیدا می کند. همچنین، نمای ناهمواری α و نمای رشد β ، به ترتیب برابر α =۰.۷۲±۰.۰۱ و β=۰.۱۱±۰.۰۱ ، به دست آمد. بر اساس این نتایج، دریافتیم که فرآیند رشد لایه ها را میتوان به صورت ترکیبی از مدل های خطی EW و پخش سطحی مولینز توصیف نمود.
Keywords:
Authors
فایق حسین پناهی
دانشگاه بوعلی سینا همدان
داود رئوفی
دانشگاه بوعلی سینا همدان