تجزیه و تحلیل عوامل بحرانی موفقیت و شکست تحقیق و توسعه فناوری نانو با رویکرد ترسیم نقشه فازی
Publish place: 9th International Industrial Engineering Conference
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 779
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
IIEC09_231
تاریخ نمایه سازی: 26 اسفند 1391
Abstract:
آسب شناسی پژوهش های علوم اجتماعی و انسانی نشان می دهد که میزان خطا و ابهام در سنجه ها و ارزیابی های انسانی همواره موجب کاهش اعتبار این پژوهش ها می شو د . از این رو ، برای رفع این آسیب و عدم اطمینان و ابهام در ارزیابی های انسانی ، روش ترسیم نقشه فازی به عنوان رویکردی نوین در تجزیه و تحلیل عوام ل معرفی و استفاده می گردد . در این پژوهش ابتدا عناصر تحقیق و توسعه فناوری نانو در ایران با مطالعه کتابخانه ای شناسایی و سپس با توزیع پرسشنامه و انجام مصاحبه در جامعه مورد نظر شا م ل مدیران و کارشناسان صنعت در حوزه فناوری نانو و اساتید دانشگاهی این حوزه ، شاخص های نهایی شامل 27 عنصر تحقیق و توسعه فناوری نانو در ایران در هفت بعد مجزا شناسایی و تقسیم بندی ش د . سپس با استفاده از رویکرد ترسیم نقشه فازی عوامل بحرانیموفقیت و شکست این عناصر معرفی گردید. نتایج این تحقیق نشان داد که مهمترین عامل بحرانی موفقیت ایجاد آگاهی عمومی در حوزه فناوری نانو و مهمترین عوامل بحرانیشکست ایجاد تعامل بین محققان و مهندسان ، پیشنهاد راهبردهای تحقیق و توسعه برای دولت ، و ارتباط بین صنعت و دانشگاه است
Keywords:
Authors
شهلا یاسائی
کارشناسی ارشد مهندسی صنایع
فرهاد قاسمی
دانشیار دانشگاه صنعتی شریف
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :