اندازه گیری ضریب شکست تیغه های اپتیکی نازک از طریق تداخل سنج مایکلسون
Publish place: The 21st National Physics Education Conference and the 11th Physics and Laboratory Conference
Publish Year: 1402
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 170
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
UIP21_029
تاریخ نمایه سازی: 16 اسفند 1402
Abstract:
در این تحقیق لایه نشانی (CdTe) به روش الکترو دیپوزیشن بر روی زیر لایه Ito ⁄ لام انجام گرفت و ضریب شکست هر یکاز تیغه ها و ضریب شکست موثر آن ها با استفاده از تداخل سنجی مایکلسون اندازه گیری شد . لایه ی CdTe با ضخامت ۶ / ۲ میکرومتربر روی زیر لایه نشانده شده و ضریب شکست لام ، Ito و CdTe به ترتیب ۴ / ۱ ، ۹ / ۱ و ۹ / ۲ اندازه گیری شد. اندازه گیری ضریبشکست باروش تداخل سنجی مایکلسون میتواند جایگزین روش های گران قیمت شود.
Keywords:
Authors
نرجس حق جو
دانشجو کارشناسی فیزیک مهندسی دانشگاه ولیعصر(عج) رفسنجان
امیرحسین شکوه
دانشجو کارشناسی ارشد فوتونیک دانشگاه ولیعصر(عج) رفسنجان
محمد خان زاده
استادیارد گروه فیزیک دانشگاه ولیعصر(عج) رفسنجان