A Method for Determining the Critical Parts of Electronic Circuits into EFT/B
Publish place: 7th Sympozium on Advances in Sience & Technology
Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 1,702
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
SASTECH07_122
تاریخ نمایه سازی: 30 تیر 1392
Abstract:
Electrical Fast Transient/Burst Immunity testing is an important safety measure that examines thedisturbances caused by switching power supplies, inductors, contact relays, or high voltageswitches on electric and electronic equipment and allows system designers to study the efficiencyof the equipment under this type of system disturbance. If a compliancy test is performedaccording to the current standard method of testing and the result shows a failure, detecting thesusceptible point is difficult, and repeating the test in the EMC reference laboratory is very timeconsuming and costly. With a low-cost EFT/B simulator circuit, the critical and sensitive pointscan be identified sooner and they can be resolved at design phase.
Keywords:
Authors
B.Gh Family
Communication Department, Niroo Research Institute, Iran.
V.H Vaghef
Communication Department, Niroo Research Institute, Iran.
M Shabro
Communication Department, Niroo Research Institute, Iran.
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :