افزایش دقت اندازه گیری ابعاد عیوب در آزمون غیر مخرب رادیوگرافی صنعتی با استفاده از پردازش تصویر به روش فیلتر بازگشتی
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
Export:
Document National Code:
Index date: 13 November 2024
افزایش دقت اندازه گیری ابعاد عیوب در آزمون غیر مخرب رادیوگرافی صنعتی با استفاده از پردازش تصویر به روش فیلتر بازگشتی abstract
افزایش دقت اندازه گیری ابعاد عیوب در آزمون غیر مخرب رادیوگرافی صنعتی با استفاده از پردازش تصویر به روش فیلتر بازگشتی Keywords:
افزایش دقت اندازه گیری ابعاد عیوب در آزمون غیر مخرب رادیوگرافی صنعتی با استفاده از پردازش تصویر به روش فیلتر بازگشتی authors
پژوهشکده راکتور و ایمنی هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران، ا یران
آزمایشکاه آزمون های غیر مخرب، مرکز نظام ایمنی هسته ای کشور، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران، ایران
آزمایشکاه آزمون های غیر مخرب، مرکز نظام ایمنی هسته ای کشور، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران، ایران
آزمایشکاه آزمون های غیر مخرب، مرکز نظام ایمنی هسته ای کشور، سازمان انرژی اتمی ایران، تهران، ایران
پژوهشکده راکتور و ایمنی هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران، ایران
پژوهشکده راکتور و ایمنی هسته ای، پژوهشگاه علوم و فنون هسته ای، تهران، ا یران