طرا حی و شبیه سازی یک سیستم مخلوط کننده سیگنال

Publish Year: 1391
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 536

This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

NCCSE01_065

تاریخ نمایه سازی: 9 بهمن 1392

Abstract:

با پیشرفت سریع مدارهای آنالوگ و دیجیتال، تشخیص خطا و آزمون پذیری این مدارها از اهمیت بسیار بالائی برخوردار است.استفاده از شبکه های عصبی روشی موفق در تشخیص خطا است. در این مقاله استفاده از شبکه های عصبی در تشخیص خطادر مدارهای مخلوط کننده سیگنال را بررسی می کنیم. روشهای متداول موجود قدرت بالایی در تشخیص خطا دارند ولی نمیتوانند مانند شبکه عصبی محل رخ دادن خطا را جستجو کنند. علاوه بر آن با استفاده از شبکه های عصبی می توان تشابه بردارآزمون ورودی به سایر الگوهای ورودی را در مدلهای خطا تشخیص داد.

Keywords:

مدارهای مخلوط کننده سیگنال- خطا - شبکه های عصبی – آزمون پذیری- ADC

Authors

حجت الله حمیدی

دانشگاه آزاد اسلامی واحد دورود

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • طرا حی و شبیه سازی سیستم تست کننده مدارهای Mixed-Signal، ...
  • E V aluationofSpec ificationB asedTests' , 2000, w WW _ ...
  • Zorian, Y., Testing the monster chip'; Spectrum, IEEE , Volume: ...
  • Zorian, Y.; Dey, S.; Rodgers, M.J.; "Test of _ S ...
  • Zorian, Y.; 'Emerging trends in VLSI test and diagnosis', VLSI, ...
  • Zorian, Y.; Marinissen, _ 'System chip test: how _ it ...
  • Zorian, Y.1 "Testing semiconductor chips: trends and solutions', Integrated Circuits ...
  • Zorian, 7.; 'System-chip test strategies', Conference, ...
  • Proceedings, 15-19 June 1998 Page(s): 752 - Yervant Zorian, ...
  • Reliability, M aintainability, and Safety: and Practice', January 2000, ...
  • Rob Aitken, Test-Based Failure Analysis - Part 1: Fault Models', ...
  • Conference, October 03 - 05, 2000, Atlantic City, NJ, USA. ...
  • Kent H. Lundberg, 'An alog-to-Digital Testing', ...
  • Mark Burns and Gordon W. Roberts, 'An Introduction _ Mixed-Signal ...
  • Chakrabarti. S. (.'herubal. S.Chatterjee. A., 'Fault diagnosis for mixed signal ...
  • نمایش کامل مراجع