تعیین ثابت های اپتیکی و ضخامت فیلم های نازک و خیلی نازک Al2 O3 با استفاده از روش بهینه سازی الگوریتم ژنتیک
Publish place: 8th Conference on Condensed Matter
Publish Year: 1385
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 1,623
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
این Paper در بخشهای موضوعی زیر دسته بندی شده است:
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
CMC08_104
تاریخ نمایه سازی: 3 اسفند 1385
Abstract:
روش های متعددی برای تعیین پارامترهای اپتیکی لایه های نازک وجود دارد که از جمله می توان به روشهای بهینه سازی اشاره نمود . با مقید سـازی معـادلات اپتیکی و استفاده از روش بهینه سازی الگوریتم ژنتیک و همچنین با نامقید سازی پارامتر های اپتیکی و اسـتفاده از الگـوریتم BBG ثابتهـای اپتیکـی ( ضـریب خاموشـی وضریب شکست ) و ضخامت لایه های نازک Al2 O3 با ضخامت های مختلف، با استفاده از طیف تراگسیل آنها تعیین شد . با مقایسه نتایج به دست آمده از دو روش مختلف بهینه سازی با مقادیر واقعی ، نشان داده شد که اولا " با استفاده از روش بهینه سازی می توان پارامتر های اپتیکی لایه نازک را محاسبه نمود . ثانیا " مقادیر به دست آمده از روش بهینه سازی معادلات مقید با روش الگوریتم ژنتیک بسیار به مقادیر به دست آمده از روش حل معادلات نا مقید به روش BBG نزدیک می .باشد
Authors
فرهاد اسمعیلی قدسی
گروه فیزیک دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان ، رشت
ایرج علی میرزائی
گروه فیزیک دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان ، رشت
فریانه فرهادی
گروه فیزیک دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان ، رشت
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :