بررسی خواص لایه های نازک اکسید اینیدیم آلاییده با قلع و مقایسه نتایج به دو روش بیضی سنجی و کرامرز-کرونیگ
Publish place: Second National Conference on Materials Engineering
Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 679
This Paper With 5 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
NCOMAE02_011
تاریخ نمایه سازی: 16 خرداد 1394
Abstract:
اندازه گیری ضرایب اپتیکی (ضرایب شکست و خاموشی) از جمله مباحث مهم نانو ساختارها است. روشهای متعددی وجوددارند که می توان بوسیله آنها ضرایب اپتیکی را اندازه گیری کرد. از جمله این روش ها می توان روش کرامرز -کرونیگ و بیضیسنجی را نام برد. در این مقاله با استفاده از این دو روش ضرایب اپتیکی نانو ساختار های اکسید ایندیم آلاییده با قلع که درضخامت های 134،145 و 290 نانومتر به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیر لایه شیشه ای و در شرایط یکسان تهیه شدهاند را بررسی می کنیم و نتایج را مقایسه می کنیم.
Authors
داود رئوفی
گروه فیزیک, دانشکده علوم، دانشگاه بوعلی سینا همدان, خیابان مهدیه, همدان
علی جمشیدی
گروه فیزیک, دانشکده علوم، دانشگاه بوعلی سینا همدان, خیابان مهدیه, همدان