An improvement in XPS peak shape analysis; nanometalized polymer as a case study
Publish Year: 1393
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: English
View: 589
متن کامل این Paper منتشر نشده است و فقط به صورت چکیده یا چکیده مبسوط در پایگاه موجود می باشد.
توضیح: معمولا کلیه مقالاتی که کمتر از ۵ صفحه باشند در پایگاه سیویلیکا اصل Paper (فول تکست) محسوب نمی شوند و فقط کاربران عضو بدون کسر اعتبار می توانند فایل آنها را دریافت نمایند.
- Certificate
- من نویسنده این مقاله هستم
استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:
شناسه ملی سند علمی:
ICNN05_374
تاریخ نمایه سازی: 30 آبان 1394
Abstract:
We have improved XPS peak shape analysis for accurate characterization of metal nanostructures embeddedin a polymer matrix. We have determined the detailed in-depth distribution of cylindrical Au nanowire in polymer usingthe analysis of a single spectrum by taking into account the electron transport phenomena corresponding to both metaland polymer components. This means that we have made a very simple and nondestructive indirect 3D XPS imagingtechnique for inline characterization of bi-component surface nanostructures including metal and polymer. This is a verypromising technique for inline quality control of such surface nanostructures
Keywords:
nanometalized polymer , cylindrical gold nanowire , x-ray photoelectron spectroscopy , XPS peak shape analysis , 3D XPS imaging
Authors
A Mirali
Department of Physics, Yasouj University, Yasouj, Iran
S Hajatii
Department of Physics, Yasouj University, Yasouj, Iran
A Avazpour
Department of Physics, Yasouj University, Yasouj, Iran
S Tougaard
Department of Physics and Chemistry, University of Southern Denmark, DK-۵۲۳۰ Odense M, Denmark