بررسی مورفولوژی سطح لایه های نازک نیترید مس-نقره با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال
Publish Year: 1394
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 745
This Paper With 9 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
PFCONF01_106
Index date: 19 February 2016
بررسی مورفولوژی سطح لایه های نازک نیترید مس-نقره با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال abstract
ساختار سطح سه بعدی لایه های نازک نیترید مس نقره که به روش لایه نشانی مغناطیسی DC بروی زیرلایه های شیشه و سلیکون رشد داده شده اند، با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال مورد بررسیقرار گرفت.آنالیز فراکتال سطح نشان میدهد که سطح نانو ساختار نیترید مس-نقره در ابعاد نانو دارایژئومتری فراکتال می باشد. آنالیز فراکتال به طور کمی عوامل موثر بر زبری سطح از جمله بعد فراکتال راتعیین می نماید. در اینجا برای محاسبه بعد فراکتال از روش Envelopes Morphological استفاده می کنیم.
بررسی مورفولوژی سطح لایه های نازک نیترید مس-نقره با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال Keywords:
بررسی مورفولوژی سطح لایه های نازک نیترید مس-نقره با استفاده از تصاویر AFM و آنالیز فراکتال authors
مژگان کاکایی
گروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، واحد کرمانشاه، دانشگاه آزاد اسلامی کرمانشاه، ایران
مراجع و منابع این Paper:
لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :