بررسی خواص نرم مغناطیسی هگزافریت نوع W توسط دوپ لانتانم به روش سل-ژل
Publish place: The third national conference on new technologies in the chemical, petrochemical and Iran Nanotechnology
Publish Year: 1395
Type: Conference paper
Language: Persian
View: 721
This Paper With 7 Page And PDF Format Ready To Download
- Certificate
- I'm the author of the paper
Export:
Document National Code:
TCPCO03_168
Index date: 6 September 2016
بررسی خواص نرم مغناطیسی هگزافریت نوع W توسط دوپ لانتانم به روش سل-ژل abstract
در این پژوهش هگزافریت نانو ساختار نوع W جانشین شده با کاتیون لانتانم با ترکیب شیمیایی SRNI2LAxFE16-Xo27 (1/0.0/8.6/0.4/0.2/0.x-0) به روش سل زل خود احتراقی به منظور بررسی خواص مغناطیسی الکتریکی و ریز ساختاری تهیه گردید با توجه به نتایج پراکش پرتو ایکس XRD در مقادیر کمتر از x-0/6 هگزافریت نوع W تک فاز بدون ناخالصی تشکیل می گردد با افزایش مقدار جانشانی x پارامترهای شبکه aوc به ترتیب 5/86 تا 5/88Aو33/28تا 33/25A تغیر می کند از طرف دیگر اندازه کریستالیت در محدوده 21-34 قرار می گیرد با توجه به نتایج میکروسکوپ الکترونی روبشی FESEM کاتیون La +3 به عنوان سدی در برابر رشد دانه عمل می کند به طوری که اندازه دانه پیوسته از 600به 200nm کاهش می یابد بر اساس نتایج VSM مغناطیس به دلیل حضور کاتیون دیامغناطیس لانتانم به طور پیوسته کاهش می یابد همچنین به دلیل ارتباط معکوس وادارندگی با مغناطیس اشباع وادارندگی تا مقدار حداکثری Oe 807 افزایش می یابد مقاومت الکتریکی با افزایش کاتیون جانشین شده تا X-0/6از0/9* 7 10 تا Ω.cm 7/0*7 10 افزایش می یابد این افزایش را می توان به تغییرات ریز ساختاری نمونه های سنتز شده افزایش حفرات بین ذرات و ایجاد فازهای ثانویه مانند اکسیدهای پایدار ترکیب های بین فلزی لانتانم آهن نسبت داد
بررسی خواص نرم مغناطیسی هگزافریت نوع W توسط دوپ لانتانم به روش سل-ژل Keywords:
بررسی خواص نرم مغناطیسی هگزافریت نوع W توسط دوپ لانتانم به روش سل-ژل authors
احسان حسین خان نژاد
کارشناسی ارشد، دانشکده مهندسی مواد و متالورژی، دانشگاه سمنان،
یوسف علی زاد فرزین
دانشجوی دکتری، دانشکده مهندسی متالورژی و مواد، دانشگاه تهران،
محمد حسن زاده سبلویی
دانشجوی دکتری، دانشکده مهندسی متالورژی و مواد، دانشگاه تهران،