مروری بر انواع مدلهای قابلیت اطمینان در بازرسی فنی و تستهای غیر مخرب

Publish Year: 1386
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 2,481

This Paper With 25 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

ICTINDT01_064

تاریخ نمایه سازی: 5 تیر 1387

Abstract:

بازرسی فنی نقش عمده ای در عملکرد مجتمع و یکپارچه مولفه ها و ساختارهای صنعتی از جمله خطوط تولید، صنایع هوا فضا، صنایع نفت و گاز و صنایع هسته ای دارد و این وظیفه را با فراهم آوردن اطلاعات در زمینه شرایط فعلی و عیبهای موجود در سیستم فراهم می کند. بر خلاف عقیده رایج در میان مهندسان ، روش بازرسی غیر مخرب (NDT) نیز همانند هر روش عیب یابی دیگر ، هیچگاه کامل و جامع نیست . در بازرسی فنی، عیوب آشکارنشده سیستم یافت می گردد، اما بدلایل متعدد از جمله فیزیک تکنیکهای بکار رفته، هندسه عیب و خطای انسانی،ممکن است عیبهای سیستم تشخیص داده نشوند. در دهه های 1970 و 1980 ، سوال کردن در مورد قابلیت اطمینان متداول گردید اما کمتر به آن پاسخ قانع کننده ای داده می شد. با درک مفهوم و کمیت در قابلیت اطمینان، این امکان فراهم شد که یافته های بازرسی فنی از نظر درجه ارزش و اهمیت مقدار دهی شود و همچنین قابلیت اطمینان و کارآیی آن بهبود یابد. در بیست سال گذشته مقدار دهی به "قابلیت اطمینان " بر حسب دو پارامتر ارزیابی، یک تمرین متداول گشت که این دو فاکتور عبارتند از: احتمال آشکارسازی Probability Of Detection) POD) و احتمال نمایش غلط Probability of False Indication)PFI)، ولی اکثرا مقداردهی به این دو بر اساس اندازه گیریهای تجربی صورت می گرفت. در این مقاله ضمن تعریف دقیق PFI و POD، ابتدا روشهای عملی اندازه گیری POD بیان می شود. انواع مدلهایمربوط به PFI و POD و روند تکامل این مدلها از ابتدایی تا پیشرفته اشاره خواهد شد. سپس مزایای مدلسازی POD و انواع روشهای پیشگویی و پیش بینی عیوب بازرسی فنی با این مدل به طور مشروح ارائه می شود و انواع کاربردهای پیشرفته آن در صنایع و تکنولوژی روز دنیا نیز بیان می گردد.

Keywords:

بازرسی فنی , مدلهای قابلیت اطمینان , احتمال آشکارسازی Probablity Of Detection)POD) , احتمال نمایش غلط Probablity of False Indication)PFI)

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • .Silk M G, Stoneham AM and Temple JAG، The Reliability ...
  • .Wall M and Wedgwood: NDT Value for Money, BINDT Journal, ...
  • .F A Wedgwood and M Wall: Inspection Reliability, opening Plenary ...
  • .S Crutzen et al: The Major result of the PISC ...
  • .R L Smith :Improving the Reliability, Quality and Cost effectiveness ...
  • .Reliability Assessment at Airline Inspection Facilities, Vol I, IT & ...
  • .Hobbs C P: Final Report of B RITE- EURAM BE5 ...
  • O Forli Reliability of Radiography and Ultrasonic Testing, DNV, 5:e ...
  • J A Rudlin and W D Dover: Results of Probability ...
  • L S Sch? and D 0 Thompson: NDE and Design ...
  • 1. J A Ogjlvy: A model for predicting ultrasonic pulse ...
  • (POD)Model for X-Radio graphy, AEA Technology report AEAT-0872, July 1994. ...
  • _ Windsor and Wall M: NNXPOSE a receptive field neural ...
  • Silk M G Estimates of the probability of detection (POD) ...
  • Silk M G: The rapid analysis of TOFD data incorporating ...
  • R A Murgatroyd et al: Human Reliability in Inspection: Results ...
  • Wedgwood FA and Wall M Example: Optimising Performance and Value ...
  • Wedgwood and Wall M: Examples of Inspection Value studies AEA ...
  • G R Tillack, _ Nockemann, D Schnitger and C Hobbs: ...
  • Wall M NDT of ships as an aid to maintanance, ...
  • TANKC ARFL 2000 conference, Hamburg, Germany, 13-14 May 1996. Also ...
  • Wall M The practical exploitation of R&D from the Harwell ...
  • Brechling V J: A methodology for the economic assessment of ...
  • Wall M: Prediction of probability of detection (POD) for an ...
  • Silk M: Flaw size distributions in pressure vessels and Jaw ...
  • Silk M: Flaw Sue distributions in engineering structures, AEA Technology ...
  • نمایش کامل مراجع