بررسی تاثیر شرایط مرزی در مدل کامپکت کانال کوتاه افزار MOSFET

Publish Year: 1395
نوع سند: مقاله کنفرانسی
زبان: Persian
View: 487

This Paper With 10 Page And PDF Format Ready To Download

  • Certificate
  • من نویسنده این مقاله هستم

استخراج به نرم افزارهای پژوهشی:

لینک ثابت به این Paper:

شناسه ملی سند علمی:

COMCONF02_029

تاریخ نمایه سازی: 5 بهمن 1395

Abstract:

در این مقاله شرایط مرزی در مرز اتصال نواحی ترانزیستور ماسفت مورد بحث قرار گرفته و نتایج آن ها بر روی مدل کامپکت اثر کانال کوتاه در ماسفت بررسی شده است . ابتدا نشان داده که مدل قبلی VDT نتایج شبیه سازی را زمانی که ناحیه درین با دوز کم یا اسپیسر نازک در نظر گرفته شده باشد را محقق نمی کند. راه حلی که برای آن پیشنهاد شده اصلاح مدل پتانسیل کانال با استفاده از شرایط مرزی دقیق در لبهکانال که از محاسبه یک مقدار دقیق و موثر پتانسیل درون ساخت در سورس و درین تشکیل شده است ، می باشد.در ادامه تاثیر بهبودهای ایجاد شده در شرایط مرزی مدل کامپکت اثر کانال کوتاه بررسی شده است. نشان داده شده مقادیر DIBL و SS در مدل قبلی VDT را می توان به سادگی در تمامی افزاره های ماسفت به مقدار مورد قبول در شبیه سازی و بدون تنظیم پارامترها اصلاح نمود. که این در نهایت اجازه بررسی تاثیر غلظت دوپینگ اتصالها بر روی عملکرد افزاره را می دهد.در ادامه با اصلاح مدل جدید و تاثیر خازن موثر گیت در آن نشان خواهیم داد که مدل جدید توافق بهتری با نتایج شبیه سازی خواهد داشت.

Authors

همدم قناتیان

موسسه آموزش عالی پویش

مراجع و منابع این Paper:

لیست زیر مراجع و منابع استفاده شده در این Paper را نمایش می دهد. این مراجع به صورت کاملا ماشینی و بر اساس هوش مصنوعی استخراج شده اند و لذا ممکن است دارای اشکالاتی باشند که به مرور زمان دقت استخراج این محتوا افزایش می یابد. مراجعی که مقالات مربوط به آنها در سیویلیکا نمایه شده و پیدا شده اند، به خود Paper لینک شده اند :
  • G. Pananakakis, and G. Ghibaudo, _ _ S emi-analytical modeling ...
  • R. C. Varshney, "Simple theory for thre shold-voltage modulation in ...
  • Q. Xie, J. Xu, and Y. Taur, "Review and critique ...
  • R. R. Troutman, "Ilon-implanted threshold tailoring for insulated gate field-effect ...
  • A. Kloes, M. Weidemann, and B. Iniguez, "Analytical 3D approach ...
  • A. T S ormpatzoglou, D. H. Tassis, C. A. Dimitriadis, ...
  • T. Skotnicki and P. Bouillon, "Electrical performances of retrograde versus ...
  • Q. Chen, B. Agrawal, and J. _ Meindl, _ comprehensive ...
  • A. T S ormpatzoglou, C. A. Dimitriadis, R. Clerc, Q. ...
  • D. J. Frank, Y. Taur, and H.-S. P. Wong, "Generalized ...
  • Z.-H. Liu et al., "Threshold voltage model for deep _ ...
  • J. G. Fossum, P.-C. Yeh, and J.-Y. Choi, ، Computer- ...
  • T. Dutta, Q. Rafhay, G. Pananakakis, and G. Ghibaudo, "Modeling ...
  • T. Holtij, M. Graef, F. M. Hain, A. Kloes, and ...
  • M. Graef, T. Holtij, F. Hain, A. Kloes, and B. ...
  • L. Zhang, X. Lin, J. He, and M. Chan, "An ...
  • J. Lacord, J.-L. Huguenin, T. Skotnicki, G. Ghibaudo, and F. ...
  • "Simple and efficient MASTAR threshold voltage and subthreshold slope models ...
  • (2013). Mastar. [Online]. Available: http ://www. itrs.net/modes .html ...
  • T. Skotnicki, G. Merckel, and T. Pedron, _ voltage-doping trans ...
  • punchthrough Anomalous؛ه 20. T. Skotnicki, G. Merckel, and T. Pedron, ...
  • Z. Yuan and Z. Yu, _ Short-channe. effect modeling ofDG-FETs ...
  • T. Skotnicki, G. Merckel, and T. Pedron, "Analytical study of ...
  • J. P. Colinge, "Multi-gate SOI MOSFETs, " Microelectro, Eng., vol. ...
  • C.-W. Lee, S.-R.-N. Yun, C.-G. Yu, J.-T. Park, and J.-P. ...
  • S. Bangsaruntip, G. M. Cohen, A. Majumdar, and J. W. ...
  • S. Barraud et al., "Performance of omega- shaped-gate silicon nanowire ...
  • J. Lacord, _ _ eveloppement de modeles pour 1"evaluation des ...
  • Grenoble, S aint-Martin-d Heres, France, 2012. [Online]. Available: http ://tel. ...
  • A. Pouydebasque, C. Charbuillet, R. Gwoziecki, and T. Skotnicki, "Refinement ...
  • T. Ernst, R. Ritzenthaler, O. Faynot, and S. Cristoloveanu, "9A ...
  • M.-H. Na, E. J. Nowak, W. Haensch, and J. Cai, ...
  • (2013). Mastar. [Online]. Available: http ://www. itrs.net/modes .html ...
  • F. Pregaldiny, C. Lallement, and D. Mathiot, _ simple efficient ...
  • H. Momose et al., "Performance of CMOS circuits with LDD-type ...
  • Electron., vol. 46, no. 12, pp. 2191-2198, 2002. ...
  • نمایش کامل مراجع